Heteroepitaxy of CdTe on Si substrates in view of infrared and x-rays detection

Jean-Pierre Faurie, L. Almeida, Yuanping Chen, Robert Sporken, Siva Sivananthan

    Résultats de recherche: Papier de travailArticle de travail

    langue originaleAnglais
    Lieu de publicationBellingham
    ÉditeurSociety of photo-optical instrumentation engineers
    Etat de la publicationPublié - 1999

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