Featured Model-based Mutation Analysis

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Résumé

Model-based mutation analysis is a powerful but expensive testing technique. We tackle this problem by proposing an optimization technique that drastically speeds up the mutant execution process. Central to this approach is the Featured Mutant Model, a modeling framework for mutation analysis inspired by the software product line paradigm. It uses behavioral variability models, viz., Featured Transition Systems, which enable the optimized generation, configuration and execution of mutants. We provide results, based on models with thousands of transitions, suggesting that our technique is fast and scalable. We found that it outperforms previous approaches by several orders of magnitude and that it makes higher-order mutation practically applicable.
langue originaleAnglais
titreProceedings of the 38th international conference on Software Engineering
Lieu de publicationAustin, TX, USA
EditeurACM Press
Pages655-666
Nombre de pages12
ISBN (imprimé)978-1-4503-3900-1
Les DOIs
Etat de la publicationPublié - mai 2016

Série de publications

NomICSE '16
EditeurACM

Empreinte digitale Examiner les sujets de recherche de « Featured Model-based Mutation Analysis ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

  • Projets

    Activités

    • 1 Participation à une conférence, un congrès

    38th International Conference on Software Engineering

    Xavier Devroey (Conférencier)

    18 mai 201620 mai 2016

    Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

    Thèses de l'étudiant

    Behavioural model-based testing of software product lines

    Author: Devroey, X., 30 août 2017

    Superviseur: Schobbens, P. (Promoteur), Heymans, P. (Promoteur), Englebert, V. (Président), Baudry, B. (Personne externe) (Jury), Cohen, M. B. (Personne externe) (Jury), Legay, A. (Jury) & Perrouin, G. (Jury)

    Thèse de l'étudiant: Doc typesDocteur en Sciences

    Fichier

    Contient cette citation

    Devroey, X., Perrouin, G., Papadakis, M., Legay, A., Schobbens, P., & Heymans, P. (2016). Featured Model-based Mutation Analysis. Dans Proceedings of the 38th international conference on Software Engineering (p. 655-666). (ICSE '16). ACM Press. https://doi.org/10.1145/2884781.2884821