Far-Field Subdiffraction Imaging of Semiconductors Using Nonlinear Transient Absorption Differential Microscopy

Ning Liu, Mahendar Kumbham, Isabel Pita, Yina Guo, Paolo Bianchini, Alberto Diaspro, Syed A M Tofail, André Peremans, Christophe Silien

    Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticleRevue par des pairs

    Empreinte digitale

    Examiner les sujets de recherche de « Far-Field Subdiffraction Imaging of Semiconductors Using Nonlinear Transient Absorption Differential Microscopy ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

    Material Science

    Biochemistry, Genetics and Molecular Biology

    Physics