Excimer laser (λ = 193 nm) versus AlKα X-Ray damages on polymer surfaces: an XPS (core and valence levels) analysis of polytetrafluoroethylene, polypropylene and polyethylene

Jean-Jacques Pireaux, R. de Meulemeester, E.M. Roberfroid, Chantal Grégoire, M. Chtaïb, Yvan Novis, Joseph Riga, Roland Caudano

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

langue originaleAnglais
Pages (de - à)186-191
Nombre de pages6
journalNucl. Instr. Meth. in Physics Res., B
Volume105
Etat de la publicationPublié - 1995

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