Enhanced quantitative birefringence imaging supported by unsupervised topological analysis of polarized light microscopy

Résultats de recherche: Contribution dans un livre/un catalogue/un rapport/dans les actes d'une conférenceArticle dans les actes d'une conférence/un colloque

Résumé

We introduce quantitative birefringence spatial measurements coupled with unsupervised topological analysis of polarization microscopy to reconstruct crystal grain axis orientations in composite uniaxial materials. Proof-of-principle demonstration is given using thin-section geological samples.
langue originaleAnglais
titreFrontiers in Optics + Laser Science 2023 (FiO, LS)
EditeurOptica Publishing Group
Les DOIs
Etat de la publicationPublié - 2023

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « Enhanced quantitative birefringence imaging supported by unsupervised topological analysis of polarized light microscopy ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

Contient cette citation