Enhanced field emission and breakdown near the contact between metal and dielectric

Moon S. Chung, Jung P. Cheon, Alexander Mayer, Brock L. Weiss, Nicholas M. Miskovsky, Paul H. Cutler

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Résumé

We have investigated the enhanced field emission observed at the contact between metal and dielectric. Using a two-dimensional junction consisted of metal, vacuum and dielectric, we have found that both polarization charges and space charges in dielectric are responsible for not only the field emission enhancement but dielectric breakdown. The dielectric effect is obtained according to the configuration and the value of dielectric constant.

langue originaleAnglais
titreProceedings - IVNC 2011
Sous-titre2011 24th International Vacuum Nanoelectronics Conference
Pages23-24
Nombre de pages2
Etat de la publicationPublié - 22 sept. 2011
Evénement2011 24th International Vacuum Nanoelectronics Conference, IVNC 2011 - Wuppertal, Allemagne
Durée: 18 juil. 201122 juil. 2011

Série de publications

NomProceedings - IVNC 2011: 2011 24th International Vacuum Nanoelectronics Conference

Une conférence

Une conférence2011 24th International Vacuum Nanoelectronics Conference, IVNC 2011
Pays/TerritoireAllemagne
La villeWuppertal
période18/07/1122/07/11

Empreinte digitale

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