Electron spectroscopies for studying chemical bondings at surfaces

Résultats de recherche: Contribution dans un livre/un catalogue/un rapport/dans les actes d'une conférenceChapitre

langue originaleAnglais
titreNato Advanced Institute Series 1986
Sous-titreImproved Methods for Examining the Submicron World
rédacteurs en chefJ. W Mc, D. M Gowan
EditeurPlenum Publishing Corp.
Pages51-70
Nombre de pages20
Etat de la publicationPublié - 1986

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