langue originale | Anglais |
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Pages (de - à) | 013118 |
Nombre de pages | 4 |
journal | Applied Physics Letters |
Volume | 102 |
Les DOIs | |
Etat de la publication | Publié - 2013 |
mots-clés
- Graphene, Silicon, STM
Équipement
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Microscopie à effet tunnel
Robert Sporken (!!Manager)
Plateforme technologique Morphologie, imagerieEquipement/installations: Equipement
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Morphologie - Imagerie
Francesca Cecchet (!!Manager) & Henri-Francois Renard (!!Manager)
Plateforme technologique Morphologie, imagerieEquipement/installations: Plateforme technolgique
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Synthèse, Irradiation et Analyse de Matériaux (SIAM) (2016 - ...)
Pierre Louette (!!Manager), Julien Colaux (!!Manager), Alexandre Felten (!!Manager), Tijani Tabarrant (!!Operator), Frederic COME (!!Operator) & Paul-Louis Debarsy (!!Manager)
Plateforme technologique Synthese, irradiation et analyse des materiauxEquipement/installations: Plateforme technolgique