langue originale | Anglais |
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Pages (de - à) | 013118 |
Nombre de pages | 4 |
journal | Applied Physics Letters |
Volume | 102 |
Les DOIs | |
Etat de la publication | Publié - 2013 |
mots-clés
- Graphene, Silicon, STM
Équipement
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Microscopie à effet tunnel
Sporken, R. (!!Manager)
Plateforme technologique Morphologie, imagerieEquipement/installations: Equipement
-
Morphologie - Imagerie
Cecchet, F. (!!Manager) & Renard, H.-F. (!!Manager)
Plateforme technologique Morphologie, imagerieEquipement/installations: Plateforme technolgique
-
Synthèse, Irradiation et Analyse de Matériaux (SIAM) (2016 - ...)
Louette, P. (!!Manager), Colaux, J. (!!Manager), Felten, A. (!!Manager), Tabarrant, T. (!!Operator), COME, F. (!!Operator) & Debarsy, P.-L. (!!Manager)
Plateforme technologique Synthese, irradiation et analyse des materiauxEquipement/installations: Plateforme technolgique