Diode Laser Measurements of Kr-Broadened Linewidths in the ν1 Band of OCS

Ghislain Blanquet, Jacques Walrand, Jean-Pierre Bouanich

    Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticleRevue par des pairs

    langue originaleAnglais
    Pages (de - à)5366-5371
    Nombre de pages6
    journalApplied Optics
    Volume29
    Etat de la publicationPublié - 1990

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