Dielectric enhancement of electric fields for a noble cold cathode

M. S. Chung, J. P. Chun, A. Mayer, N. M. Miskovsky, P. H. Cutler

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    Résumé

    Electric fields at metal-dielectric contact were calculated analytically and numerically. The obtained field exhibited enhancements strong enough to cause breakdown at a triple junction and more apparently at a quadruple junction. Such field enhancements may lead to a noble type of cold cathode.

    langue originaleAnglais
    titre14th IEEE International Vacuum Electronics Conference, IVEC 2013 - Proceedings
    Les DOIs
    Etat de la publicationPublié - 9 sept. 2013
    Evénement14th IEEE International Vacuum Electronics Conference, IVEC 2013 - Paris, France
    Durée: 21 mai 201323 mai 2013

    Une conférence

    Une conférence14th IEEE International Vacuum Electronics Conference, IVEC 2013
    Pays/TerritoireFrance
    La villeParis
    période21/05/1323/05/13

    Empreinte digitale

    Examiner les sujets de recherche de « Dielectric enhancement of electric fields for a noble cold cathode ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

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