Dielectric enhancement of electric fields for a noble cold cathode

M. S. Chung, J. P. Chun, A. Mayer, N. M. Miskovsky, P. H. Cutler

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Résumé

Electric fields at metal-dielectric contact were calculated analytically and numerically. The obtained field exhibited enhancements strong enough to cause breakdown at a triple junction and more apparently at a quadruple junction. Such field enhancements may lead to a noble type of cold cathode.

langue originaleAnglais
titre14th IEEE International Vacuum Electronics Conference, IVEC 2013 - Proceedings
Les DOIs
Etat de la publicationPublié - 9 sept. 2013
Evénement14th IEEE International Vacuum Electronics Conference, IVEC 2013 - Paris, France
Durée: 21 mai 201323 mai 2013

Une conférence

Une conférence14th IEEE International Vacuum Electronics Conference, IVEC 2013
PaysFrance
La villeParis
période21/05/1323/05/13

    Empreinte digitale

Contient cette citation

Chung, M. S., Chun, J. P., Mayer, A., Miskovsky, N. M., & Cutler, P. H. (2013). Dielectric enhancement of electric fields for a noble cold cathode. Dans 14th IEEE International Vacuum Electronics Conference, IVEC 2013 - Proceedings [6570981] https://doi.org/10.1109/IVEC.2013.6570981