Depth Profiling of Organic Light-Emitting Diodes by ToF-SIMS Coupled with Wavelet–Principal Component Analysis

Céline Noël, Nunzio Tuccitto, Yan Busby, Manuel Auer-Berger, Antonino Licciardello, Emil J.W. List-Kratochvil, Laurent Houssiau

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticleRevue par des pairs

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « Depth Profiling of Organic Light-Emitting Diodes by ToF-SIMS Coupled with Wavelet–Principal Component Analysis ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

Ingénierie et Science des Matériaux

composés chimiques