Depth Profiling of Organic Light-Emitting Diodes by ToF-SIMS Coupled with Wavelet–Principal Component Analysis

Céline Noël, Nunzio Tuccitto, Yan Busby, Manuel Auer-Berger, Antonino Licciardello, Emil J.W. List-Kratochvil, Laurent Houssiau

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticleRevue par des pairs

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « Depth Profiling of Organic Light-Emitting Diodes by ToF-SIMS Coupled with Wavelet–Principal Component Analysis ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

Biochemistry, Genetics and Molecular Biology

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Chemistry