Deposition of CeO2 on Si(111) studied by LEED, AES, XPS and RBS

C.E. Guillaume, M. Vermeersch, Robert Sporken, J.J. Verbist, S. Mathot, Guy Demortier

    Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticleRevue par des pairs

    langue originaleAnglais
    journalSurface and interface analysis
    Volume22
    Etat de la publicationPublié - 1994

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