Comparative study of erbium disilicide thin films grown in situ under ultrahigh vacuum or ex situ with a capping layer

N. Reckinger, C.A. Duţu, X. Tang, E. Dubois, D.A. Yarekha, S. Godey, L. Nougaret, A. Łaszcz, J. Ratajczak, J.-P. Raskin

    Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revue › Article › Revue par des pairs

    Empreinte digitale

    Examiner les sujets de recherche de « Comparative study of erbium disilicide thin films grown in situ under ultrahigh vacuum or ex situ with a capping layer ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

    Material Science