Combined AFM and ToF-SIMS analyses for the study of filaments in organic resistive switching memories

Yan Busby, Alexis Franquet, Valentina Spampinato, Giulia Casula, Annalisa Bonfiglio, Piero Cosseddu, Jean Jacques Pireaux, Laurent Houssiau

    Résultats de recherche: Contribution dans un livre/un catalogue/un rapport/dans les actes d'une conférence › Article dans les actes d'une conférence/un colloque

    Empreinte digitale

    Examiner les sujets de recherche de « Combined AFM and ToF-SIMS analyses for the study of filaments in organic resistive switching memories ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

    INIS

    Engineering

    Keyphrases

    Chemistry

    Material Science