Caracterizacion de sistemas de multicapas metalicos mediante PIXE diferencial y RBS

Jose-Luis Ruvalcaba-Sil, J.G. Morales, M. Munoz, A. Oliver, L. Rodriguez Fernandez, J. Miranda, Guy Demortier

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revue › Article

langue originale	Espagnol
Pages (de - à)	274-279
Nombre de pages	6
journal	Avances en Analisis por Tecnicas en Rayos X, VI Seminario Latinoamericano de Analisis por Tecnicas de Rayos X, SARX'98
Volume	Vol. X
Etat de la publication	Publié - 2000

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Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revue › Article

TY - JOUR

T1 - Caracterizacion de sistemas de multicapas metalicos mediante PIXE diferencial y RBS

AU - Ruvalcaba-Sil, Jose-Luis

AU - Morales, J.G.

AU - Munoz, M.

AU - Oliver, A.

AU - Rodriguez Fernandez, L.

AU - Miranda, J.

AU - Demortier, Guy

PY - 2000

Y1 - 2000

M3 - Article

VL - Vol. X

SP - 274

EP - 279

JO - Avances en Analisis por Tecnicas en Rayos X, VI Seminario Latinoamericano de Analisis por Tecnicas de Rayos X, SARX'98

JF - Avances en Analisis por Tecnicas en Rayos X, VI Seminario Latinoamericano de Analisis por Tecnicas de Rayos X, SARX'98

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