Caesium/xenon dual beam depth profiling: Velocity of the sputtered atom and ionization probability

J. Brison, B. Douhard, L. Houssiau

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticleRevue par des pairs

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « Caesium/xenon dual beam depth profiling: Velocity of the sputtered atom and ionization probability ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

Ingénierie et Science des Matériaux

composés chimiques

Physique & Astronomie