langue originale | Anglais |
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Pages (de - à) | 121-124 |
Nombre de pages | 4 |
journal | Vide: Science, Technique et Applications |
Volume | 52 |
Numéro de publication | 279 |
Etat de la publication | Publié - 1996 |
Analyses Auger et XPS de l'interface de TiO/Si
K. Grigorov, R. Sporken, J. Riga, R. Caudano, D. Bouchier, G. I. Grigorov
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