An electrical evaluation method for the silicidation of silicon nanowires

X. Tang, N. Reckinger, V. Bayot, D. Flandre, E. Dubois, D.A. Yarekha, G. Larrieu, A. Lecestre, J. Ratajczak, N. Breil, V. Passi, J.-P. Raskin

    Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticleRevue par des pairs

    Empreinte digitale

    Examiner les sujets de recherche de « An electrical evaluation method for the silicidation of silicon nanowires ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

    Chemistry

    Chemical Engineering

    Material Science