An application of cesium-xenon co-sputtering: Quantitative study of a Pd-Rh thin film by ToF-SIMS

J. Brison, R. Hubert, S. Lucas, L. Houssiau

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revue › Article › Revue par des pairs

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « An application of cesium-xenon co-sputtering: Quantitative study of a Pd-Rh thin film by ToF-SIMS ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

Chemistry