AFM and XPS characterization of the Si(111) surface after thermal treatment

B. Lamontagne, D. Guay, D. Roy, Robert Sporken, Roland Caudano

    Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticleRevue par des pairs

    langue originaleAnglais
    Pages (de - à)481-487
    journalAppl. Surf. Science
    Volume90
    Etat de la publicationPublié - 1995

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