Accurate electronics calibration for particle backscattering spectrometry

Julien L. Colaux, Chris Jeynes

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

Résumé

Rutherford backscattering spectrometry (RBS) is a non-destructive thin film analytical technique of the highest absolute accuracy which, when used for elemental depth profiling, depends at first order on the gain of the pulse-height spectrometry system. We show here for the first time how this gain can be reliably and robustly determined at about 0.1%. This journal is

langue originaleAnglais
Pages (de - à)3096-3104
Nombre de pages9
journalAnalytical Methods
Volume7
Numéro de publication7
Les DOIs
Etat de la publicationPublié - 7 avr. 2015
Modification externeOui

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