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1973 …2004
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Revue de documentation
2000

XPS study of ion induced oxidation of silicon with and without oxygen flooding

De Witte, H., Conard, T., Sporken, R., Gouttebaron, R., Magnée, R., Vandervorst, W., Caudano, R. & Gijbels, R., 2000, Dans : Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS XII. p. 73-76 4 p.

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