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1973 …2004
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1998

C60/metal surfaces: adsorption and decomposition

Hevesi, K., Pedio, M., Zema, N., Gouttebaron, R., Wiame, F., Comite, O., Fardelli, A., Sporken, R., Pireaux, J-J., Caudano, R. & Rudolf, P., 1998, Recent advances in chemistry and physics of Fullerenes and related materials. Karl, M., Rodney, K. & Ruoff, S. (eds.). The American Electrochemical Society, Vol 6. p. 511-525 15 p.

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Silicon suboxide onto polypropylene: plasma pretreatment effects on acid-base properties

Bodino, F., Compiègne, N., Köhler, L., Pireaux, J-J. & Caudano, R., 1998, Polymer-solid interfaces: from model to real systems: proceedings of the 2nd international conference, Namur, 12-16 August 1996. Pireaux, J. J., Delhalle, J. & Rudolf, P. (eds.). Namur: Presses universitaires de Namur, p. 17-29 13 p.

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Study of energy gap and electronic transitions in model polymer systems: electronic versus optical transitions

Pireaux, J-J., Gensterblum, G., Grégoire, C., Han, B-Y., Hevesi, K., Fustin, C-A., Rudolf, P., Yu, L. M. L., Caudano, R., Leigh, D. & Zerbetto, F., 1998, Science and technology of polymers and advanced materials: emerging technologies and business opportunities. Prasad, P. N. (Ed.). New York: Plenum Press, p. 153-164 12 p.

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Tailoring of the SiOx-polypropylene interface through plasma pretreatments: a test case for the acid-base concept

Bodino, F., Compiègne, N., Köhler, L., Pireaux, J-J. & Caudano, R., 1998, Proceedings of the 20th annual "anniversary" meeting of the Adhesion Society. Drzal, L. T. & Schreiber, H. P. (eds.). The Adhesion Society, p. 41-44 4 p.

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1996

C60-derivative films: epitaxial growth, photoemission and angle-resolved inverse photoemission studies

Langlais, V., Yu, L. M. L., Forbeaux, I., Ghijsen, J., Gan, L., Huang, C., Johnson, R., Belkhir, H., Themlin, J-M., Debever, J-M., Gensterblum, G. & Caudano, R., 1996, Fullerenes and pullerenes nanostructures: Proceedings of the international winterschool on electronic properties of novel materials. Kuzmany, H., Fink, J., Mehring, M. & Roth, S. (eds.). Singapour: World Scientific, p. 64-67 4 p.

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1995

Spectrométries de pertes d'énergie des électrons dans les solides

Thiry, P., Pireaux, J-J. & Caudano, R., 1995, Techniques de l'Ingénieur: Traité Analyse et Caractérisation. Vol P2 635. p. 1-12 12 p.

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1994

Growth mode and interface study of C60 on GeS(001)

Hevesi, K., Gensterblum, G., Han, B-Y., Yu, L. M. L., Pireaux, J-J., Thiry, P. & Caudano, R., 1994, Proceedings of the International Winterschool on Electronic Properties of Novel Materials (Kirchberg 1994): Progress in Fullerene Research. Kuzmany, H., Fink, J., Mehring, M. & Roth, S. (eds.). p. 66-69 4 p.

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1993

High-resolution electron energy loss spectroscopy of thin C60 films

Gensterblum, G., Pireaux, J-J., Thiry, P., Caudano, R., Lambin, P. & Lucas, A., 1993, Electronic Properties of High Tc Superconductors (Springer-Verlag, Berlin, 1993). Kuzmany, H., Mehring, M. & Fink, J. (eds.). Berlin, Heidelberg: Springer Verlag, Vol 113. p. 516-519 4 p.

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1990

High resolution electron energy loss spectroscopy applied to polymer surfaces and polymer-metal interactions

Pireaux, J-J., Thiry, P., Grégoire, C., Vermeersch, M., REI VILAR, M. & Caudano, R., 1990, Metallization of Polymers. Sacher, J. J. & Pireaux, S. P. (eds.). Vol 440. p. 47-59 13 p.

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Interface optical phonons : a non-destructive and quantitative study by high resolution electron energy loss spectroscopy

Thiry, P., Sporken, R., Pireaux, J-J., Caudano, R., Lambin, P., Vigneron, J-P. & Lucas, A., 1990, Proceedings of the 3rd International Conference on Phonon Physics, Heidelberg, 21-25/8/89. Hunklinger, S., Ludwig, W. & Weiss, G. (eds.). World Scientific, Vol 2. p. 886-888 3 p.

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Surface phonon dispersion curves of ionic insulators measured by high resolution electron energy loss spectroscopy

Longueville, J-L., Thiry, P., Pireaux, J-J. & Caudano, R., 1990, Proceedings of the 3rd international conference on Phonon Physics, Heidelberg, 21-25/8/89. Hunklinger, S., Ludwig, W. & Weiss, G. (eds.). Vol 2. p. 895-897 3 p.

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1986

AlSb formation in UHV by laser annealing of evaporated Al and Sb films. Characterization by AES and XPS

Petit, E., WARNANT, PAUL., Thiry, P. & Caudano, R., 1986, Laser Surface Teatment of Metals. Draper, C. W. & Mazzoldi, P. (eds.). Vol 115. p. 157-162 6 p.

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Electron spectroscopies for studying chemical bondings at surfaces

Caudano, R., Pireaux, J-J. & Thiry, P., 1986, Nato Advanced Institute Series 1986: Improved Methods for Examining the Submicron World. Mc, J. W. & Gowan, D. M. (eds.). Plenum Publishing Corp., p. 51-70 20 p.

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1985

High resolution electron energy loss spectra from surfaces and interfaces of semiconductor oxides

Vigneron, J-P., Lucas, A., Thiry, P., Liehr, M., Pireaux, J-J. & Caudano, R., 1985, Proceedins of the 17th International Conference on the Physics of Semiconductors, San Francisco 1984. Chadi, D. J., Bachrach, R. Z. & Harrison, W. A. (eds.). New York: Springer Verlag, p. 209-212 4 p.

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Optical surface phonons of dielectric materials investigated by HREELS

Thiry, P., Liehr, M., Pireaux, J-J., Caudano, R., Lambin, P., Vigneron, J-P. & Lucas, A., 1985, Proceedings of the 2nd International Conference on Phonon Physics, Budapest 1985. Kollar, J., Kroo, N., Menyhard, N. & Siklos, T. (eds.). Singapour: World Scientific Publishing Co, p. 650-652 3 p.

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1984

Electron energy loss spectroscopy on polycrystalline UFe2 surfaces

GOUDER, T., Thiry, P., Caudano, R., Verbist, J. & MAROIE, S., 1984, Proceedings des 14° Journées des Actinides, Davos 1984. Schönes, J. (Ed.). p. 141-143 3 p.

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