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Paul Bertrand

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20132013
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Résultat de recherche 2013 2013

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TOF-SIMS depth profiling of multilayer amino-acid films using large Argon cluster Arn+, C60+ and Cs+ sputtering ions: A comparative study

Wehbe, N., Tabarrant, T., Brison, J., Mouhib, T., Delcorte, A., Bertrand, P., Moellers, R., Niehuis, E. & Houssiau, L., 1 janv. 2013, Dans : Surface and interface analysis. 45, 1, p. 178-180 3 p.

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Depth profiling
Argon
Secondary ion mass spectrometry
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