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  • 2021

    Birefringence measurement device

    Fernandez Alvarez, A. M. (Inventeur) & Deparis, O. (Inventeur), 10 sept. 2021, CIB n ° G01N 21/23, Brevet n ° WO2021175984, 4 mars 2021, Date de priorité 6 mars 2020, Numéro de priorité EP20161525

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  • 2013

    Functional multilayer system

    Vigneron, J.-P. (Inventeur), Deparis, O. (Inventeur), Simonis, P. (Inventeur), Gaigneaux, E. (Inventeur), Ghazzal, M. N. (Inventeur), De Coninck, J. (Inventeur) & Kebaili, H. (Inventeur), 7 nov. 2013, CIB n ° G02B 5/28 ; G02B 6/35 ; G02B 26/00 ; G02F 1/19, Brevet n ° EP2847627, 18 mars 2015, Date de priorité 30 avr. 2012, Numéro de priorité EP12166155

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  • 2005

    Verfahren zur Auflösung von Metallnanopartikeln in Dielektrika durch Einwirkung eines elektrischen Gleichfeldes

    Graener, H. (Inventeur), Seifert, G. (Inventeur), Podlipensky, A. (Inventeur), Abdolvand, A. (Inventeur), Kazansky, P. G. (Inventeur) & Deparis, O. (Inventeur), 3 nov. 2005, CIB n ° C03C 14/00 ; C03C 21/00 ; C03C 23/00 ; C03C 25/62 , Brevet n ° WO2005102951, 13 avr. 2005, Date de priorité 15 avr. 2004, Numéro de priorité DE102004018908

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