Nicolas Mine

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20062019
Si vous avez apporté des modifications à Pure, elles seront bientôt visibles.

Résultat de recherche 2007 2019

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2019
Cesium
Depth profiling
Secondary ion mass spectrometry
Ion beams
Sputtering
2014

Investigation of Cs surface layer formation in Cs-SIMS with TOF-MEIS and SIMS

Houssiau, L., Noël, C., Mine, N., Jung, K. W., Min, W. J. & Moon, D. W., 2014, Dans : Surface and interface analysis. 46, S1, p. 22-24 3 p.

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phenylalanine
Secondary ion mass spectrometry
Ion bombardment
Phenylalanine
secondary ion mass spectrometry
2013

First in situ Optical Emission Spectroscopy measurements during cesium low-energy depth profiling

Mine, N. & Houssiau, L., 1 janv. 2013, Dans : Surface and interface analysis. 45, 1, p. 61-64 4 p.

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Optical emission spectroscopy
Cesium
Depth profiling
optical emission spectroscopy
cesium
2012
bionics
Depth profiling
Ions
ions
Secondary ion mass spectrometry
2011

Molecular depth profiling with reactive ions, or why chemistry matters in sputtering

Houssiau, L. & Mine, N., 1 janv. 2011, Dans : Surface and interface analysis. 43, 1-2, p. 146-150 5 p.

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polycarbonate
Depth profiling
Sputtering
Polymers
sputtering
2010

Molecular depth profiling of polymers with very low energy reactive ions

Houssiau, L. & Mine, N., 1 août 2010, Dans : Surface and interface analysis. 42, 8, p. 1402-1408 7 p.

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polycarbonate
Depth profiling
Sputtering
Polymers
Ions
2008

MCsn+ cluster formation on organic surfaces: A novel way to depth-profile organics?

Mine, N., Douhard, B. & Houssiau, L., 15 déc. 2008, Dans : Applied Surface Science. 255, 4, p. 973-976 4 p.

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Depth profiling
Polymers
Atoms
Polymethyl Methacrylate
Ions

Molecular depth profiling of polymers with very low energy ions

Mine, N. & Houssiau, L., 2008, Dans : Physicalia Magazine. 30, p. 3-23 21 p.

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polymers
polycarbonates
profiles
polyethylenes
polarity

Molecular depth profiling of polymers with very low energy ions

Houssiau, L., Douhard, B. & Mine, N., 15 déc. 2008, Dans : Applied Surface Science. 255, 4, p. 970-972 3 p.

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Depth profiling
Polymers
Ions
Polyethylene Terephthalates
Polymethyl Methacrylate
2007

Measurement and modeling of work function changes during low energy cesium sputtering

Brison, J., Mine, N., Poisseroux, S., Douhard, B., Vitchev, R. G. & Houssiau, L., 15 mars 2007, Dans : Surface Science. 601, 6, p. 1467-1472 6 p.

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Cesium
cesium
Sputtering
sputtering
Silicon

Molecular depth-profiling of polycarbonate with low-energy Cs+ ions

Mine, N., Douhard, B., Brison, J. & Houssiau, L., 1 janv. 2007, Dans : Rapid Communications in Mass Spectrometry. 21, 16, p. 2680-2684 5 p.

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polycarbonate
Depth profiling
Ions
Polymers
Irradiation