Nicolas Mine

  • 214 Citations
  • 7 h-Index
20062019
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Profil personnel

Domaines de compétence

Time of Flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS), X-Ray Photoemission Spectroscopy. Ultra High Vacuum.

Charges externes

Préparation dans le cadre des voyages d'échange et d'immersion de la FUCID au Bénin.

Diplômes

Licencié en sciences physiques

Domaines de compétence

Time of Flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS), X-Ray Photoemission Spectroscopy. Ultra High Vacuum.

Charges externes

Préparation dans le cadre des voyages d'échange et d'immersion de la FUCID au Bénin.

Diplômes

Licencié en sciences physiques

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  • 34 Profils similaires
Depth profiling composés chimiques
Ions composés chimiques
polycarbonate composés chimiques
Sputtering composés chimiques
Cesium composés chimiques
Polymers composés chimiques
Secondary ion mass spectrometry composés chimiques
sputtering Physique & Astronomie

Projets 2006 2006

Résultat de recherche 2007 2019

  • 214 Citations
  • 7 h-Index
  • 11 Article
Cesium
Depth profiling
Secondary ion mass spectrometry
Ion beams
Sputtering

Investigation of Cs surface layer formation in Cs-SIMS with TOF-MEIS and SIMS

Houssiau, L., Noël, C., Mine, N., Jung, K. W., Min, W. J. & Moon, D. W., 2014, Dans : Surface and interface analysis. 46, S1, p. 22-24 3 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

phenylalanine
Secondary ion mass spectrometry
Ion bombardment
Phenylalanine
secondary ion mass spectrometry

First in situ Optical Emission Spectroscopy measurements during cesium low-energy depth profiling

Mine, N. & Houssiau, L., 1 janv. 2013, Dans : Surface and interface analysis. 45, 1, p. 61-64 4 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

Optical emission spectroscopy
Cesium
Depth profiling
optical emission spectroscopy
cesium
bionics
Depth profiling
Ions
ions
Secondary ion mass spectrometry

Molecular depth profiling with reactive ions, or why chemistry matters in sputtering

Houssiau, L. & Mine, N., 1 janv. 2011, Dans : Surface and interface analysis. 43, 1-2, p. 146-150 5 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

polycarbonate
Depth profiling
Sputtering
Polymers
sputtering

Activités 2007 2008

  • 3 Participation à un atelier/workshop, un séminaire, un cours
  • 2 Participation à une conférence, un congrès

Winterschool: organic electronic

Nicolas Mine (Orateur)
7 févr. 2008

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à un atelier/workshop, un séminaire, un cours

Which Life?

Nicolas Mine (Participant)
21 janv. 200825 janv. 2008

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à un atelier/workshop, un séminaire, un cours

SIMS 07

Nicolas Mine (Orateur)
28 oct. 20073 nov. 2007

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

ECASIA 07

Nicolas Mine (Organisateur)
4 sept. 20079 sept. 2007

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

Nanobeams ecole doctorale : cycle 1 week 3

Nicolas Mine (Participant)
18 juin 200722 juin 2007

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à un atelier/workshop, un séminaire, un cours

Thèse

Etude de l'influence du césium sur l'ionisation en ToF-SIMS

Auteur: Mine, N., 2006

Superviseur: Houssiau, L. (Promoteur) & Pireaux, J. (Jury)

Thèse de l'étudiant: Master typesMaster en sciences physiques

TOF-SIMS molecular depth profiling of polymers and organic materials using low energy atomic primary ions for sputtering

Auteur: Mine, N., 17 déc. 2012

Superviseur: Houssiau, L. (Promoteur), Champagne, B. (Jury), Pireaux, J. (Président), Bertrand, P. (Personne externe) (Jury) & Wirtz, T. (Personne externe) (Jury)

Thèse de l'étudiant: Doc typesDocteur en Sciences

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