Profil personnel
Présentation
09/2010 : Professeur ordinaire aux Facultés Universitaires N.-D. de la Paix
01/2010-08/2010 : Mission scientifique au National Institute of Standards and Technology (NIST), Gaithersburg, Maryland, USA
08/2008- : Directeur du Département de Physique
09/2005-08/2005 : Professeur aux Facultés Universitaires N.-D. de la Paix
09/2000-08/2005 : Chargé de Cours aux Facultés Universitaires N.-D. de la Paix
10/1999-08/2000 : Collaborateur Scientifique FNRS
05/1999-09/1999 : Assistant de Recherche UCL
04/1997-04/1999 : Recherche post-doctorale à l'Université de Houston, Texas, USA
01/1995-01/1997 : Chercheur pour le projet européen "Quantification of surface analysis by LEIS"
10/1991 - 04/1996 : Recherche doctorale à l'UCL (promoteur: Prof. P. Bertrand)
Domaines de compétence
ToF-SIMS (Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometry): mécanismes d'ionisation, profilage de matière organique, profilage à très haute résolution en profondeur...
LEIS (Low Energy Ion Scattering): compétence acquise lors de la thèse et du post-doc
2. Production et modification de matériaux interfaciaux par évaporation sous vide et plasma RF
Diplômes
Docteur en Sciences Appliquées, U.C.L. (1996)
Présentation
09/2010 : Professeur ordinaire aux Facultés Universitaires N.-D. de la Paix
01/2010-08/2010 : Mission scientifique au National Institute of Standards and Technology (NIST), Gaithersburg, Maryland, USA
08/2008- : Directeur du Département de Physique
09/2005-08/2005 : Professeur aux Facultés Universitaires N.-D. de la Paix
09/2000-08/2005 : Chargé de Cours aux Facultés Universitaires N.-D. de la Paix
10/1999-08/2000 : Collaborateur Scientifique FNRS
05/1999-09/1999 : Assistant de Recherche UCL
04/1997-04/1999 : Recherche post-doctorale à l'Université de Houston, Texas, USA
01/1995-01/1997 : Chercheur pour le projet européen "Quantification of surface analysis by LEIS"
10/1991 - 04/1996 : Recherche doctorale à l'UCL (promoteur: Prof. P. Bertrand)
Domaines de compétence
ToF-SIMS (Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometry): mécanismes d'ionisation, profilage de matière organique, profilage à très haute résolution en profondeur...
LEIS (Low Energy Ion Scattering): compétence acquise lors de la thèse et du post-doc
2. Production et modification de matériaux interfaciaux par évaporation sous vide et plasma RF
Diplômes
Docteur en Sciences Appliquées, U.C.L. (1996)
Qualification académique
Docteur ès sciences, Time-of-flight ion scattering spectrometry study of the order-disorder transition at the Cu3Au(100) surface, Université Catholique de Louvain
Date d'octroi: 30 juin 1996
Empreinte digitale
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Collaborations et principaux domaines de recherche des cinq dernières années
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