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Résultat de recherche 1994 2019

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2019

A flexible organic memory device with a clearly disclosed resistive switching mechanism

Casula, G., Busby, Y., Franquet, A., Spampinato, V., Houssiau, L., Bonfiglio, A. & Cosseddu, P., 1 janv. 2019, Dans : Organic Electronics: physics, materials, applications. 64, p. 209-215 7 p.

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Data storage equipment
mass spectrometers
Silver
silver
electronics

Carbon-based lanthanum nickelate material La 2−x−y Nd x Pr y NiO 4+δ (x = 0, 0.3, and 0.5; y = 0 and 0.2) as a bifunctional electrocatalyst for oxygen reduction in alkaline media

Amira, S., Ferkhi, M., Khaled, A., Mauvy, F., Grenier, J. C., Houssiau, L. & Pireaux, J. J., 1 août 2019, Dans : Ionics. 25, 8, p. 3809-3822 14 p.

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Lanthanum
electrocatalysts
Electrocatalysts
lanthanum
Carbon

Comparison of the linking arm effect on the biological performance of a CD31 agonist directly grafted on L605 CoCr alloy by a plasma-based multistep strategy

Diaz-Rodriguez, S., Loy, C., Chevallier, P., Noël, C., Caligiuri, G., Houssiau, L. & Mantovani, D., 1 sept. 2019, Dans : Biointerphases. 14, 5, p. 051009 051009.

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Accès ouvert
anhydrides
Polyethylene glycols
glycols
polyethylenes
Arm
Graphite
oxygen plasma
Organometallics
Nanostructured materials
Graphene

Hybrid perovskites depth profiling with variable-size argon clusters and monatomic ions beams

Noël, C., Pescetelli, S., Agresti, A., Franquet, A., Spampinato, V., Felten, A., di Carlo, A., Houssiau, L. & Busby, Y., 1 mars 2019, Dans : Materials. 12, 5, 726.

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Accès ouvert
Depth profiling
Argon
perovskites
Ion beams
Sputtering
5 Downloads (Pure)

In-depth investigation of the charge extraction efficiency for thermally annealed inverted bulk-heterojunction solar cells

Kolb, F., Busby, Y., Houssiau, L. & J.W. List-Kratchvil, E., 21 janv. 2019, Dans : Journal of Applied Physics. 125, 3, 31 p., 034502.

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Accès ouvert
File
heterojunctions
solar cells
annealing
profiles
ITO (semiconductors)
2 Downloads (Pure)

Influence of Aluminum Laser Ablation on Interfacial Thermal Transfer and Joint Quality of Laser Welded Aluminum–Polyamide Assemblies

Al-Sayyad, A., Bardon, J., Hirchenhahn, P., Vaudémont, R., Houssiau, L. & Plapper, P., 19 nov. 2019, Dans : Coatings. 9, 11, 14 p.

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Accès ouvert
File
Laser ablation
Joining
Aluminum
Lasers
Surface properties

Investigation of some physical properties of pure and Co-doped MoO3 synthesized on glass substrates by the spray pyrolysis method

Benameur, N., Chakhoum, M. A., Boukhachem, A., Dahamni, M. A., Ghamnia, M., Hacini, N., Pireaux, J. P., Houssiau, L. & Ziouche, A., 1 juil. 2019, Dans : Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. 234, p. 71-79 9 p.

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Spray pyrolysis
Cobalt
pyrolysis
sprayers
cobalt

Surface modification and direct plasma amination of L605 CoCr alloys: on the optimization of the oxide layer for application in cardiovascular implants

Diaz-Rodriguez, S., Chevallier, P., Paternoster, C., Montaño-Machado, V., Noël, C., Houssiau, L. & Mantovani, D., 1 janv. 2019, Dans : RSC Advances. 9, 4, p. 2292-2301 10 p.

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Accès ouvert
Amination
Oxides
Surface treatment
Plasmas
Stents
Cesium
Depth profiling
Secondary ion mass spectrometry
Ion beams
Sputtering

Tuning the Magnetism of Plasma-Synthesized Iron Nitride Nanoparticles: Application in Pervaporative Membranes

Haye, E., Soon Chang, C., Dudek, G., Hauet, T., Ghanbaja, J., Busby, Y., Job, N., Houssiau, L. & Pireaux, J-J., 26 avr. 2019, Dans : ACS Applied Nano Materials. 2, 4, p. 2484-2493 10 p.

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nitrides
tuning
membranes
iron
nanoparticles
2018

Aging effects in interface-engineered perovskite solar cells with 2D nanomaterials: A depth profile analysis

Busby, Y., Agresti, A., Pescetelli, S., Di Carlo, A., Noel, C., Pireaux, J-J. & Houssiau, L., 1 sept. 2018, Dans : Materials Today Energy. 9, p. 1-10 10 p.

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Nanostructured materials
Aging of materials
Gold
Graphite
Iodine
Plasmas
Nickel
Carbon
Organometallics
Nanoparticles
2017

Influence of laser ablation and plasma surface treatment on the joint strength of laser welded aluminum-polyamide assemblies.

Al-Sayyad, A., Bardon, J., Hirchenhahn, P., Mertz, G., Haouari, C., Houssiau, L. & Plapper, P., 2017, Dans : Jnpli 2017. 6 p.

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surface treatment
laser plasmas
assemblies
laser ablation
aluminum

Interaction of phosphorylcholine with fibronectin coatings: Surface characterization and biological performances

Montaño-Machado, V., Noël, C., Chevallier, P., Turgeon, S., Houssiau, L., Pauthe, E., Pireaux, J-J. & Mantovani, D., 28 févr. 2017, Dans : Applied Surface Science. 396, p. 1613-1622 10 p.

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Phosphorylcholine
Fibronectins
Coatings
Molecules
Fluorocarbon Polymers

Surface functionalization of cyclic olefin copolymer (COC) with evaporated TiO2 thin films

El Fissi, L., Vandormael, D., Houssiau, L. & Francis, L., janv. 2016, Dans : Applied Surface Science. 363, p. 670-675

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2015

Investigation in the synthesis process of plasma polymerisation: New polystyrene

Li, Z., Gillon, X., Houssiau, L. & Pireaux, J. J., 1 mai 2015, Dans : Materials Research Innovations. 19, p. S51117-S51123

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Plasma polymerization
Polystyrenes
polystyrene
polymerization
Plasmas
2014

Comparison of fullerene and large argon clusters for the molecular depth profiling of amino acid multilayers

Wehbe, N., Mouhib, T., Delcorte, A., Bertrand, P., Moellers, R., Niehuis, E. & Houssiau, L., 1 janv. 2014, Dans : Analytical and Bioanalytical Chemistry. 406, 1, p. 201-211 11 p.

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Fullerenes
Depth profiling
Argon
Silicon
Sputtering

In-depth diffusion of oxygen into LDPE exposed to an Ar–O2 atmospheric post-discharge: a complementary approach between AR-XPS and Tof-SIMS techniques

Abou Rich, S., Leroy, P., Dufour, T., Wehbe, N., Houssiau, L. & Reniers, F., 5 févr. 2014, Dans : Surface and interface analysis. 46, 3, p. 164-174 11 p., 10.1002/sia.403.

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Investigation of Cs surface layer formation in Cs-SIMS with TOF-MEIS and SIMS

Houssiau, L., Noël, C., Mine, N., Jung, K. W., Min, W. J. & Moon, D. W., 2014, Dans : Surface and interface analysis. 46, S1, p. 22-24 3 p.

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phenylalanine
Secondary ion mass spectrometry
Ion bombardment
Phenylalanine
secondary ion mass spectrometry

Plasma polymerization chemistry of unsaturated hydrocarbons: Neutral species identification by mass spectrometry

Gillon, X. & Houssiau, L., 1 août 2014, Dans : Plasma Sources Science and Technology. 23, 4, 14 p., 045010.

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mass spectroscopy
polymerization
hydrocarbons
chemistry
styrenes

XPS evidence for negative ion formation in SIMS depth profiling of organic material with cesium

Wehbe, N., Pireaux, J. J. & Houssiau, L., 2014, Dans : Journal of Physical Chemistry C. 118, 46, p. 26613-26620 8 p.

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Cesium
phenylalanine
Depth profiling
Secondary ion mass spectrometry
organic materials
2013

Behavior and evaluation of tetraalkylammonium bromides as instrument test materials in thermal desorption ion mobility spectrometers

Demoranville, L. T., Houssiau, L. & Gillen, G., 5 mars 2013, Dans : Analytical Chemistry. 85, 5, p. 2652-2658 7 p.

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Ion mobility spectrometers
Thermal desorption
Bromides
Spectrometry
Ions

First in situ Optical Emission Spectroscopy measurements during cesium low-energy depth profiling

Mine, N. & Houssiau, L., 1 janv. 2013, Dans : Surface and interface analysis. 45, 1, p. 61-64 4 p.

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Optical emission spectroscopy
Cesium
Depth profiling
optical emission spectroscopy
cesium

Molecular depth profiling of organic photovoltaic heterojunction layers by ToF-SIMS: Comparative evaluation of three sputtering beams

Mouhib, T., Poleunis, C., Wehbe, N., Michels, J. J., Galagan, Y., Houssiau, L., Bertrand, P. & Delcorte, A., 21 nov. 2013, Dans : Analyst. 138, 22, p. 6801-6810 10 p.

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Secondary Ion Mass Spectrometry
Butyric Acid
Depth profiling
Secondary ion mass spectrometry
Artifacts
plasma chemistry
copolymers
synthesis
copolymerization
photoelectron spectroscopy

TOF-SIMS depth profiling of multilayer amino-acid films using large Argon cluster Arn+, C60+ and Cs+ sputtering ions: A comparative study

Wehbe, N., Tabarrant, T., Brison, J., Mouhib, T., Delcorte, A., Bertrand, P., Moellers, R., Niehuis, E. & Houssiau, L., 1 janv. 2013, Dans : Surface and interface analysis. 45, 1, p. 178-180 3 p.

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Depth profiling
Argon
Secondary ion mass spectrometry
secondary ion mass spectrometry
Sputtering
2012
bionics
Depth profiling
Ions
ions
Secondary ion mass spectrometry
2011

Elaboration and quantitative investigation of BCN-type films by dynamic SIMS using the MCsx+ mode

Wu, F., Valle, N., Fitzpatrick, R., Ekerdt, J. G., Houssiau, L. & Migeon, H-N., 1 janv. 2011, Dans : Surface and interface analysis. 43, 1-2, p. 669-672 4 p.

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Secondary ion mass spectrometry
secondary ion mass spectrometry
Stoichiometry
stoichiometry
Calibration

Molecular depth profiling with reactive ions, or why chemistry matters in sputtering

Houssiau, L. & Mine, N., 1 janv. 2011, Dans : Surface and interface analysis. 43, 1-2, p. 146-150 5 p.

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polycarbonate
Depth profiling
Sputtering
Polymers
sputtering
styrenes
copolymers
optical emission spectroscopy
infrared absorption
secondary ion mass spectrometry

TOF-SIMS Depth profiling of vitamin C layers using Cs+ and Xe+ ion beams

Wehbe, N. & Houssiau, L., 1 janv. 2011, Dans : Surface and interface analysis. 43, 1-2, p. 190-193 4 p.

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Cesium
Xenon
Depth profiling
ascorbic acid
Vitamins
2010

Comparative study of the usefulness of low energy Cs+, Xe+, and O2+ ions for depth profiling amino-acid and sugar films

Wehbe, N. & Houssiau, L., 15 déc. 2010, Dans : Analytical Chemistry. 82, 24, p. 10052-10059 8 p.

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Amino Sugars
Depth profiling
Sputtering
Ions
Amino Acids

Molecular depth profiling of polymers with very low energy reactive ions

Houssiau, L. & Mine, N., 1 août 2010, Dans : Surface and interface analysis. 42, 8, p. 1402-1408 7 p.

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polycarbonate
Depth profiling
Sputtering
Polymers
Ions

SEM, EPR and ToF-SIMS analyses applied to unravel the technology employed for pottery-making by pre-colonial Indian tribes from Pantanal, Brazil

Felicissimo, M. P., Peixoto, J. L., Bittencourt, C., Tomasi, R., Houssiau, L., Pireaux, J-J. & Rodrigues-Filho, U. P., 1 sept. 2010, Dans : Journal of Archaeological Science. 37, 9, p. 2179-2187 9 p.

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ethnic group
Brazil
Electron Paramagnetic Resonance
Pottery-making
Tribes
2009

Cesium redeposition artifacts during low energy ToF-SIMS depth profiling

Vitchev, R. G., Brison, J. & Houssiau, L., 15 juin 2009, Dans : Applied Surface Science. 255, 17, p. 7586-7589 4 p.

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Cesium
Depth profiling
Secondary ion mass spectrometry
Sputtering
Ions
Depth profiling
Xenon
Cesium
Secondary ion mass spectrometry
cesium
2008

A 3:1 site-differentiated [4Fe-4S] cluster immobilized on a self-assembled monolayer

Van Der Geer, E. P. L., Van Den Brom, C. R., Arfaoui, I., Houssiau, L., Rudolf, P., Van Koten, G., Gebbink, R. J. M. K. & Hessen, B., 6 nov. 2008, Dans : Journal of Physical Chemistry C. 112, 44, p. 17225-17230 6 p.

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Self assembled monolayers
Sulfhydryl Compounds
Secondary ion mass spectrometry
thiols
X ray photoelectron spectroscopy
Depth profiling
Xenon
Cesium
Secondary ion mass spectrometry
cesium

Depth distribution of Cs implanted into Si at steady-state during dual beam ToF-SIMS profiling

Vitchev, R. G., Brison, J. & Houssiau, L., 15 déc. 2008, Dans : Applied Surface Science. 255, 4, p. 1331-1333 3 p.

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Secondary ion mass spectrometry
Surface segregation
Sputtering
Atoms

Investigation of methods to enhance the secondary ion yields in TOF-SIMS of organic samples

Heile, A., Lipinsky, D., Wehbe, N., Delcorte, A., Bertrand, P., Felten, A., Houssiau, L., Pireaux, J-J., De Mondt, R., Van Royen, P., Van Vaeck, L. & Arlinghaus, H. F., 1 mars 2008, Dans : Surface and interface analysis. 40, 3-4, p. 538-542 5 p.

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Secondary ion mass spectrometry
secondary ion mass spectrometry
Ions
Ion bombardment
Gold

MCsn+ cluster formation on organic surfaces: A novel way to depth-profile organics?

Mine, N., Douhard, B. & Houssiau, L., 15 déc. 2008, Dans : Applied Surface Science. 255, 4, p. 973-976 4 p.

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Depth profiling
Polymers
Atoms
Polymethyl Methacrylate
Ions

Metal-assisted SIMS and cluster ion bombardment for ion yield enhancement

Heile, A., Lipinsky, D., Wehbe, N., Delcorte, A., Bertrand, P., Felten, A., Houssiau, L., Pireaux, J-J., De Mondt, R., Van Vaeck, L. & Arlinghaus, H. F., 15 déc. 2008, Dans : Applied Surface Science. 255, 4, p. 941-943 3 p.

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Secondary ion mass spectrometry
Ion bombardment
Metals
Ions
Gold

Molecular depth profiling of polymers with very low energy ions

Houssiau, L., Douhard, B. & Mine, N., 15 déc. 2008, Dans : Applied Surface Science. 255, 4, p. 970-972 3 p.

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Depth profiling
Polymers
Ions
Polyethylene Terephthalates
Polymethyl Methacrylate

Molecular depth profiling of polymers with very low energy ions

Mine, N. & Houssiau, L., 2008, Dans : Physicalia Magazine. 30, p. 3-23 21 p.

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polymers
polycarbonates
profiles
polyethylenes
polarity

Purity of epitaxial cubic BoronNitride films on (001) Diamond - A prerequisite for their doping

Yin, H., Boyen, H-G., Ziemann, P., Dohuard, B., Houssiau, L., Renaux, F., Hecq, M. & Bittencourt, C., 1 mars 2008, Dans : Diamond and Related Materials. 17, 3, p. 276-282 7 p.

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Diamond
Diamonds
Carbon
Doping (additives)
Secondary ion mass spectrometry

The Storing Matter technique: Preliminary results on PS and PVC

Philipp, P., Douhard, B., Lacour, F., Wirtz, T., Houssiau, L., Pireaux, J-J. & Migeon, H-N., 15 déc. 2008, Dans : Applied Surface Science. 255, 4, p. 866-869 4 p.

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Polyvinyl Chloride
Polyvinyl chlorides
Sputter deposition
Secondary ion mass spectrometry
Ion bombardment

The Storing Matter technique: Application to inorganic samples

Philipp, P., Lacour, F., Wirtz, T., Houssiau, L., Pireaux, J-J. & Migeon, H-N., 15 déc. 2008, Dans : Applied Surface Science. 255, 4, p. 1501-1504 4 p.

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Secondary ion mass spectrometry
Ionization
Surface analysis
Ion bombardment
Monolayers
2007

Measurement and modeling of work function changes during low energy cesium sputtering

Brison, J., Mine, N., Poisseroux, S., Douhard, B., Vitchev, R. G. & Houssiau, L., 15 mars 2007, Dans : Surface Science. 601, 6, p. 1467-1472 6 p.

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Cesium
cesium
Sputtering
sputtering
Silicon