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Résultat de recherche 1994 2019

2019

A flexible organic memory device with a clearly disclosed resistive switching mechanism

Casula, G., Busby, Y., Franquet, A., Spampinato, V., Houssiau, L., Bonfiglio, A. & Cosseddu, P., 1 janv. 2019, Dans : Organic Electronics: physics, materials, applications. 64, p. 209-215 7 p.

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Data storage equipment
mass spectrometers
Silver
silver
electronics

Carbon-based lanthanum nickelate material La 2−x−y Nd x Pr y NiO 4+δ (x = 0, 0.3, and 0.5; y = 0 and 0.2) as a bifunctional electrocatalyst for oxygen reduction in alkaline media

Amira, S., Ferkhi, M., Khaled, A., Mauvy, F., Grenier, J. C., Houssiau, L. & Pireaux, J. J., 1 janv. 2019, Dans : Ionics.

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Lanthanum
electrocatalysts
Electrocatalysts
lanthanum
Carbon
Graphite
oxygen plasma
Organometallics
Nanostructured materials
Graphene

Hybrid perovskites depth profiling with variable-size argon clusters and monatomic ions beams

Noël, C., Pescetelli, S., Agresti, A., Franquet, A., Spampinato, V., Felten, A., di Carlo, A., Houssiau, L. & Busby, Y., 1 mars 2019, Dans : Materials. 12, 5, 726.

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Accès ouvert
Depth profiling
Argon
perovskites
Ion beams
Sputtering
2 Downloads (Pure)

In-depth investigation of the charge extraction efficiency for thermally annealed inverted bulk-heterojunction solar cells

Kolb, F., Busby, Y., Houssiau, L. & J.W. List-Kratchvil, E., 21 janv. 2019, Dans : Journal of Applied Physics. 125, 3, 31 p., 034502.

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Accès ouvert
File
heterojunctions
solar cells
annealing
profiles
ITO (semiconductors)

Investigation of some physical properties of pure and Co-doped MoO3 synthesized on glass substrates by the spray pyrolysis method

Benameur, N., Chakhoum, M. A., Boukhachem, A., Dahamni, M. A., Ghamnia, M., Hacini, N., Pireaux, J. P., Houssiau, L. & Ziouche, A., 1 juil. 2019, Dans : Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. 234, p. 71-79 9 p.

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Spray pyrolysis
Cobalt
pyrolysis
sprayers
cobalt

Surface modification and direct plasma amination of L605 CoCr alloys: on the optimization of the oxide layer for application in cardiovascular implants

Diaz-Rodriguez, S., Chevallier, P., Paternoster, C., Montaño-Machado, V., Noël, C., Houssiau, L. & Mantovani, D., 1 janv. 2019, Dans : RSC Advances. 9, 4, p. 2292-2301 10 p.

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Accès ouvert
Amination
Oxides
Surface treatment
Plasmas
Stents
Cesium
Depth profiling
Secondary ion mass spectrometry
Ion beams
Sputtering

Tuning the Magnetism of Plasma-Synthesized Iron Nitride Nanoparticles: Application in Pervaporative Membranes

Haye, E., Soon Chang, C., Dudek, G., Hauet, T., Ghanbaja, J., Busby, Y., Job, N., Houssiau, L. & Pireaux, J-J., 26 avr. 2019, Dans : ACS Applied Nano Materials. 2, 4, p. 2484-2493 10 p.

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nitrides
tuning
membranes
iron
nanoparticles
2018

Aging effects in interface-engineered perovskite solar cells with 2D nanomaterials: A depth profile analysis

Busby, Y., Agresti, A., Pescetelli, S., Di Carlo, A., Noel, C., Pireaux, J-J. & Houssiau, L., 1 sept. 2018, Dans : Materials Today Energy. 9, p. 1-10 10 p.

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Nanostructured materials
Aging of materials
Gold
Graphite
Iodine

Aluminum pretreatment by a laser ablation process: influence of processing parameters on the joint strength of laser welded aluminum - Polyamide assemblies

Al Sayyad, A., Bardon, J., Hirchenhahn, P., Santos, K., Houssiau, L. & Plapper, P., 2018, Procedia CIRP. Vol 74. p. 495-499 5 p. (Procedia CIRP).

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Laser ablation
Polyamides
Laser beam welding
Aluminum
Lasers

Chemical Bonds between Laser Welded Aluminum and Polyamide?

Hirchenhahn, P., Al Sayyad, A., Bardon, J., Felten, A., Plapper, P. & Houssiau, L., 18 sept. 2018.

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Combined AFM and ToF-SIMS analyses for the study of filaments in organic resistive switching memories

Busby, Y., Franquet, A., Spampinato, V., Casula, G., Bonfiglio, A., Cosseddu, P., Pireaux, J. J. & Houssiau, L., 1 janv. 2018, Organic and Hybrid Sensors and Bioelectronics XI. Kymissis, I., List-Kratochvil, E. J. W., Shinar, R. & Torsi, L. (eds.). SPIE, Vol 10738. 1073814

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Time-of-flight
Atomic Force Microscopy
Mass Spectrometry
Filament
Secondary ion mass spectrometry
2 Downloads (Pure)

Dry plasma treatment of organometallic precursor for the synthesis of fuel cells catalyst material

Da Silva Pires, M., Busby, Y., Haye, E., Job, N., Pireaux, J-J. & Houssiau, L., juil. 2018. 1 p.

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Accès ouvert
File
Plasmas
Nickel
Carbon
Organometallics
Nanoparticles
21 Downloads (Pure)

Nanoparticles by ICP-RF plasma: a versatile process to synthesize tuneable nanoparticles

Haye, E., Busby, Y., Bocchese, F., Da Silva Pires, M., Pireaux, J-J. & Houssiau, L., 2018, Belvac News. Vol 2018. 12 p.

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File
Inductively coupled plasma
Nanoparticles
Plasmas
Catalysts
Carbon

XPS depth profiles of organo lead halide layers and full perovskite solar cells by variable-size argon clusters

Busby, Y., Noël, C., Pescetelli, S., Agresti, A., Di Carlo, A., Pireaux, J. J. & Houssiau, L., 1 janv. 2018, Physical Chemistry of Semiconductor Materials and Interfaces XVII. Bronstein, H. A., Deschler, F. & Kirchartz, T. (eds.). SPIE, Vol 10724. 1072408

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Perovskite
X-ray Spectroscopy
Argon
Solar Cells
halides
2017

Influence of laser ablation and plasma surface treatment on the joint strength of laser welded aluminum-polyamide assemblies.

Al-Sayyad, A., Bardon, J., Hirchenhahn, P., Mertz, G., Haouari, C., Houssiau, L. & Plapper, P., 2017, Dans : Jnpli 2017. 6 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

surface treatment
laser plasmas
assemblies
laser ablation
aluminum

Interaction of phosphorylcholine with fibronectin coatings: Surface characterization and biological performances

Montaño-Machado, V., Noël, C., Chevallier, P., Turgeon, S., Houssiau, L., Pauthe, E., Pireaux, J-J. & Mantovani, D., 28 févr. 2017, Dans : Applied Surface Science. 396, p. 1613-1622 10 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

Phosphorylcholine
Fibronectins
Coatings
Molecules
Fluorocarbon Polymers

Low-pressure Plasma Deposition of Pt/C and bimetallic catalysts for efficient PEM Fuel Cells

Busby, Y., Stergiopoulos, V., Job, N., Da Silva Pires, M., Haye, E., Pireaux, J-J. & Houssiau, L., sept. 2017.

Résultats de recherche: Contribution à un événement scientifique (non publié)Poster

New bimetallic Pt-Ni catalysts for proton exchange membrane fuel cells: a plasma approach

Da Silva Pires, M., Busby, Y., Haye, E., Stergiopoulos, V., Job, N. & Houssiau, L., juil. 2017.

Résultats de recherche: Contribution à un événement scientifique (non publié)Poster

Surface functionalization of cyclic olefin copolymer (COC) with evaporated TiO2 thin films

El Fissi, L., Vandormael, D., Houssiau, L. & Francis, L., janv. 2016, Dans : Applied Surface Science. 363, p. 670-675

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2015

Investigation in the synthesis process of plasma polymerisation: New polystyrene

Li, Z., Gillon, X., Houssiau, L. & Pireaux, J. J., 1 mai 2015, Dans : Materials Research Innovations. 19, p. S51117-S51123

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Plasma polymerization
Polystyrenes
polystyrene
polymerization
Plasmas
2014

Comparison of fullerene and large argon clusters for the molecular depth profiling of amino acid multilayers

Wehbe, N., Mouhib, T., Delcorte, A., Bertrand, P., Moellers, R., Niehuis, E. & Houssiau, L., 1 janv. 2014, Dans : Analytical and Bioanalytical Chemistry. 406, 1, p. 201-211 11 p.

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Fullerenes
Depth profiling
Argon
Silicon
Sputtering

Composite polymeric-inorganic waveguide fabricated by injection molding for biosensing applications

Dortu, F., Bernier, D., Cestier, I., Vandormael, D., Emmerechts, C., Fissi, L. E., Francis, L., Nittler, L., Houssiau, L., Fodor, B., Agocs, E., Petrik, P. & Fried, M., 2014, International Conference on Transparent Optical Networks. IEEE Computer Society Press, 6876325

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Injection molding
Waveguides
Labels
Composite materials
Costs

In-depth diffusion of oxygen into LDPE exposed to an Ar–O2 atmospheric post-discharge: a complementary approach between AR-XPS and Tof-SIMS techniques

Abou Rich, S., Leroy, P., Dufour, T., Wehbe, N., Houssiau, L. & Reniers, F., 5 févr. 2014, Dans : Surface and interface analysis. 46, 3, p. 164-174 11 p., 10.1002/sia.403.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

Investigation of Cs surface layer formation in Cs-SIMS with TOF-MEIS and SIMS

Houssiau, L., Noël, C., Mine, N., Jung, K. W., Min, W. J. & Moon, D. W., 2014, Dans : Surface and interface analysis. 46, S1, p. 22-24 3 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

phenylalanine
Secondary ion mass spectrometry
Ion bombardment
Phenylalanine
secondary ion mass spectrometry

Plasma polymerization chemistry of unsaturated hydrocarbons: Neutral species identification by mass spectrometry

Gillon, X. & Houssiau, L., 1 août 2014, Dans : Plasma Sources Science and Technology. 23, 4, 14 p., 045010.

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mass spectroscopy
polymerization
hydrocarbons
chemistry
styrenes

XPS evidence for negative ion formation in SIMS depth profiling of organic material with cesium

Wehbe, N., Pireaux, J. J. & Houssiau, L., 2014, Dans : Journal of Physical Chemistry C. 118, 46, p. 26613-26620 8 p.

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Cesium
phenylalanine
Depth profiling
Secondary ion mass spectrometry
organic materials
2013

Behavior and evaluation of tetraalkylammonium bromides as instrument test materials in thermal desorption ion mobility spectrometers

Demoranville, L. T., Houssiau, L. & Gillen, G., 5 mars 2013, Dans : Analytical Chemistry. 85, 5, p. 2652-2658 7 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

Ion mobility spectrometers
Thermal desorption
Bromides
Spectrometry
Ions

First in situ Optical Emission Spectroscopy measurements during cesium low-energy depth profiling

Mine, N. & Houssiau, L., 1 janv. 2013, Dans : Surface and interface analysis. 45, 1, p. 61-64 4 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

Optical emission spectroscopy
Cesium
Depth profiling
optical emission spectroscopy
cesium

Molecular depth profiling of organic photovoltaic heterojunction layers by ToF-SIMS: Comparative evaluation of three sputtering beams

Mouhib, T., Poleunis, C., Wehbe, N., Michels, J. J., Galagan, Y., Houssiau, L., Bertrand, P. & Delcorte, A., 21 nov. 2013, Dans : Analyst. 138, 22, p. 6801-6810 10 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

Secondary Ion Mass Spectrometry
Butyric Acid
Depth profiling
Secondary ion mass spectrometry
Artifacts
plasma chemistry
copolymers
synthesis
copolymerization
photoelectron spectroscopy

TOF-SIMS depth profiling of multilayer amino-acid films using large Argon cluster Arn+, C60+ and Cs+ sputtering ions: A comparative study

Wehbe, N., Tabarrant, T., Brison, J., Mouhib, T., Delcorte, A., Bertrand, P., Moellers, R., Niehuis, E. & Houssiau, L., 1 janv. 2013, Dans : Surface and interface analysis. 45, 1, p. 178-180 3 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

Depth profiling
Argon
Secondary ion mass spectrometry
secondary ion mass spectrometry
Sputtering
2012
bionics
Depth profiling
Ions
ions
Secondary ion mass spectrometry

XPS profiling of Biosensors Materials with a Argon Cluster Ions.

Pireaux, J-J., Louette, P., Houssiau, L., Wehbe, N., Mack, P., White, R. G. & Nunney, T. S., 2012, Proceedings of the AVS 59th International Symposium and Exhibition, Tampa , Florida, USA.

Résultats de recherche: Contribution dans un livre/un catalogue/un rapport/dans les actes d'une conférenceChapitre (revu par des pairs)

2011

Elaboration and quantitative investigation of BCN-type films by dynamic SIMS using the MCsx+ mode

Wu, F., Valle, N., Fitzpatrick, R., Ekerdt, J. G., Houssiau, L. & Migeon, H-N., 1 janv. 2011, Dans : Surface and interface analysis. 43, 1-2, p. 669-672 4 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

Secondary ion mass spectrometry
secondary ion mass spectrometry
Stoichiometry
stoichiometry
Calibration

Molecular depth profiling with reactive ions, or why chemistry matters in sputtering

Houssiau, L. & Mine, N., 1 janv. 2011, Dans : Surface and interface analysis. 43, 1-2, p. 146-150 5 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

polycarbonate
Depth profiling
Sputtering
Polymers
sputtering
styrenes
copolymers
optical emission spectroscopy
infrared absorption
secondary ion mass spectrometry

TOF-SIMS Depth profiling of vitamin C layers using Cs+ and Xe+ ion beams

Wehbe, N. & Houssiau, L., 1 janv. 2011, Dans : Surface and interface analysis. 43, 1-2, p. 190-193 4 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

Cesium
Xenon
Depth profiling
ascorbic acid
Vitamins
2010

Comparative study of the usefulness of low energy Cs+, Xe+, and O2+ ions for depth profiling amino-acid and sugar films

Wehbe, N. & Houssiau, L., 15 déc. 2010, Dans : Analytical Chemistry. 82, 24, p. 10052-10059 8 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

Amino Sugars
Depth profiling
Sputtering
Ions
Amino Acids

Molecular depth profiling of polymers with very low energy reactive ions

Houssiau, L. & Mine, N., 1 août 2010, Dans : Surface and interface analysis. 42, 8, p. 1402-1408 7 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

polycarbonate
Depth profiling
Sputtering
Polymers
Ions

SEM, EPR and ToF-SIMS analyses applied to unravel the technology employed for pottery-making by pre-colonial Indian tribes from Pantanal, Brazil

Felicissimo, M. P., Peixoto, J. L., Bittencourt, C., Tomasi, R., Houssiau, L., Pireaux, J-J. & Rodrigues-Filho, U. P., 1 sept. 2010, Dans : Journal of Archaeological Science. 37, 9, p. 2179-2187 9 p.

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ethnic group
Brazil
Electron Paramagnetic Resonance
Pottery-making
Tribes
2009

Cesium redeposition artifacts during low energy ToF-SIMS depth profiling

Vitchev, R. G., Brison, J. & Houssiau, L., 15 juin 2009, Dans : Applied Surface Science. 255, 17, p. 7586-7589 4 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

Cesium
Depth profiling
Secondary ion mass spectrometry
Sputtering
Ions
Depth profiling
Xenon
Cesium
Secondary ion mass spectrometry
cesium