Projets par an
Profil personnel
Présentation
09/2010 : Professeur ordinaire aux Facultés Universitaires N.-D. de la Paix
01/2010-08/2010 : Mission scientifique au National Institute of Standards and Technology (NIST), Gaithersburg, Maryland, USA
08/2008- : Directeur du Département de Physique
09/2005-08/2005 : Professeur aux Facultés Universitaires N.-D. de la Paix
09/2000-08/2005 : Chargé de Cours aux Facultés Universitaires N.-D. de la Paix
10/1999-08/2000 : Collaborateur Scientifique FNRS
05/1999-09/1999 : Assistant de Recherche UCL
04/1997-04/1999 : Recherche post-doctorale à l'Université de Houston, Texas, USA
01/1995-01/1997 : Chercheur pour le projet européen "Quantification of surface analysis by LEIS"
10/1991 - 04/1996 : Recherche doctorale à l'UCL (promoteur: Prof. P. Bertrand)
Domaines de compétence
ToF-SIMS (Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometry): mécanismes d'ionisation, profilage de matière organique, profilage à très haute résolution en profondeur...
LEIS (Low Energy Ion Scattering): compétence acquise lors de la thèse et du post-doc
2. Production et modification de matériaux interfaciaux par évaporation sous vide et plasma RF
Diplômes
Docteur en Sciences Appliquées, U.C.L. (1996)
Présentation
09/2010 : Professeur ordinaire aux Facultés Universitaires N.-D. de la Paix
01/2010-08/2010 : Mission scientifique au National Institute of Standards and Technology (NIST), Gaithersburg, Maryland, USA
08/2008- : Directeur du Département de Physique
09/2005-08/2005 : Professeur aux Facultés Universitaires N.-D. de la Paix
09/2000-08/2005 : Chargé de Cours aux Facultés Universitaires N.-D. de la Paix
10/1999-08/2000 : Collaborateur Scientifique FNRS
05/1999-09/1999 : Assistant de Recherche UCL
04/1997-04/1999 : Recherche post-doctorale à l'Université de Houston, Texas, USA
01/1995-01/1997 : Chercheur pour le projet européen "Quantification of surface analysis by LEIS"
10/1991 - 04/1996 : Recherche doctorale à l'UCL (promoteur: Prof. P. Bertrand)
Domaines de compétence
ToF-SIMS (Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometry): mécanismes d'ionisation, profilage de matière organique, profilage à très haute résolution en profondeur...
LEIS (Low Energy Ion Scattering): compétence acquise lors de la thèse et du post-doc
2. Production et modification de matériaux interfaciaux par évaporation sous vide et plasma RF
Diplômes
Docteur en Sciences Appliquées, U.C.L. (1996)
Expertise relative aux objectifs de développement durable des Nations Unies
En 2015, les États membres des Nations Unies ont convenu de 17 objectifs de développement durable (Sustainable Development Goals, SDG) pour éradiquer la pauvreté, protéger la planète et assurer la prospérité de tous. Le travail de cette personne contribue à la poursuite du/des SDG suivant(s) :
Qualification académique
Docteur ès sciences, Time-of-flight ion scattering spectrometry study of the order-disorder transition at the Cu3Au(100) surface, Université Catholique de Louvain
Date d'octroi: 30 juin 1996
Empreinte digitale
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