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Laurent HOUSSIAU

  • Belgique

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1994 …2020

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Profil personnel

Présentation

 

09/2010 : Professeur ordinaire aux Facultés Universitaires N.-D. de la Paix

01/2010-08/2010 : Mission scientifique au National Institute of Standards and Technology (NIST), Gaithersburg, Maryland, USA

08/2008- : Directeur du Département de Physique

09/2005-08/2005 : Professeur aux Facultés Universitaires N.-D. de la Paix

09/2000-08/2005 : Chargé de Cours aux Facultés Universitaires N.-D. de la Paix

10/1999-08/2000 : Collaborateur Scientifique FNRS

05/1999-09/1999 : Assistant de Recherche UCL

04/1997-04/1999 : Recherche post-doctorale à l'Université de Houston, Texas, USA

01/1995-01/1997 : Chercheur pour le projet européen "Quantification of surface analysis by LEIS"

10/1991 - 04/1996 : Recherche doctorale à l'UCL (promoteur: Prof. P. Bertrand)

 

 

Domaines de compétence

1. Spectrométries ioniques
ToF-SIMS (Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometry): mécanismes d'ionisation, profilage de matière organique, profilage à très haute résolution en profondeur...
LEIS (Low Energy Ion Scattering): compétence acquise lors de la thèse et du post-doc
2. Production et modification de matériaux interfaciaux par évaporation sous vide et plasma RF

Diplômes

Ingénieur civil physicien, orientation science des matériaux, U.C.L. (1991)
Docteur en Sciences Appliquées, U.C.L. (1996)

Présentation

 

09/2010 : Professeur ordinaire aux Facultés Universitaires N.-D. de la Paix

01/2010-08/2010 : Mission scientifique au National Institute of Standards and Technology (NIST), Gaithersburg, Maryland, USA

08/2008- : Directeur du Département de Physique

09/2005-08/2005 : Professeur aux Facultés Universitaires N.-D. de la Paix

09/2000-08/2005 : Chargé de Cours aux Facultés Universitaires N.-D. de la Paix

10/1999-08/2000 : Collaborateur Scientifique FNRS

05/1999-09/1999 : Assistant de Recherche UCL

04/1997-04/1999 : Recherche post-doctorale à l'Université de Houston, Texas, USA

01/1995-01/1997 : Chercheur pour le projet européen "Quantification of surface analysis by LEIS"

10/1991 - 04/1996 : Recherche doctorale à l'UCL (promoteur: Prof. P. Bertrand)

 

 

Domaines de compétence

1. Spectrométries ioniques
ToF-SIMS (Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometry): mécanismes d'ionisation, profilage de matière organique, profilage à très haute résolution en profondeur...
LEIS (Low Energy Ion Scattering): compétence acquise lors de la thèse et du post-doc
2. Production et modification de matériaux interfaciaux par évaporation sous vide et plasma RF

Diplômes

Ingénieur civil physicien, orientation science des matériaux, U.C.L. (1991)
Docteur en Sciences Appliquées, U.C.L. (1996)

Qualification académique

Docteur ès sciences, Université Catholique de Louvain (UCL)

Date d'octroi: 30 juin 1996

Empreinte digitale

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