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Article de revue
2016

Thin film depth profiling by ion beam analysis

Jeynes, C. & Colaux, J. L., 7 nov. 2016, Dans : Analyst. 141, 21, p. 5944-5985 42 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle de revue

Depth profiling
Rutherford backscattering spectroscopy
Spectrometry
Ion beams
Spectrum Analysis