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Jean-Louis Longueville

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19871999
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Profil personnel

Diplômes

Docteur (avec thèse)

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Résultat de recherche 1987 1999

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HREELS, IR and SFG investigation of undoped and doped adsorbed fullerenes

Silien, C., Caudano, Y., Longueville, J-L., Bouzidi, S., Wiame, F., Peremans, A. & Thiry, P., 1999, Dans : Surface Science. 427-428, p. 79-84 6 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

Fullerenes
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Monolayers
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Inverse photoemission spectroscopy of electron irradiated epitaxial CaF2 on Si(111)

Bouzidi, S., ANGOT, T., LANGLAIS, V., DEBEVER, J-M., Sporken, R., Longueville, J-L. & Thiry, P., 1993, Dans : Surface Science. 307-309, p. 1038-1044 7 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

The formation of the epitaxial CaF2/Si(111) interface investigated by k-resolved inverse photoemission spectroscopy

Bouzidi, S., COLETTI, F., DEBEVER, J-M., Longueville, J-L. & Thiry, P., 1992, Dans : Applied Surface Science. 56-58, p. 821-826 6 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

Thèse

Installation d'un spectromètre de pertes d'électrons à très haute résolution: étude de surfaces de GeS et de films de C60

Auteur: KITENGE, M., 1997

Superviseur: Thiry, P. (Promoteur), Longueville, J. (Jury), Pireaux, J. (Jury) & Vigneron, J. (Jury)

Thèse de l'étudiant: Master typesMaster en sciences physiques