Jean-Jacques Pireaux

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2005

Poly(vinyl sulfate) Potassium Salt XPS Reference Core Level and Energy Loss Spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, 1, p. 127

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Poly(vinyl sulfate) XPS reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, p. 127-132 6 p.

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Polyimide XPS reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, p. 121-126 6 p.

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Radio-frequency plasma functionalisation of carbon nanotubes surface: O2, NH3, CF4 treatment

Felten, A., Bittencourt Papaleo Montes, C., Van Lier, G., Charlier, J-C. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Journal of Applied Physics. 98, 7

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Removal of plasma-modified low-k layer using dilute HF: influence of concentration

LE, Q. T., BAKLANOV, M. R., KESTERS, E., Azioune, A., STRUYF, H., BOULLART, W., Pireaux, J-J. & VANHAELEMEERSCH, S., 2005, Dans : Electrochemical and Solid State Letters. 8, 7, p. F21-F24

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Study of annatto from Bixa orellana seeds: An application of time-of-flight secondary ion mass spectrometry

Bittencourt, C., Felicissimo, M. P., Pireaux, J-J. & Houssiau, L., 1 avr. 2005, Dans : Spectroscopy Europe. 17, 2, p. 16-22 7 p.

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ToF-SIMS characterization of thermal modifications of bixin from Bixa orellana fruit

Bittencourt, C., Felicissimo, M. P., Pireaux, J-J. & Houssiau, L., 10 août 2005, Dans : Journal of Agricultural and Food Chemistry. 53, 16, p. 6195-6200 6 p.

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2004

Ag induced modifications on WO3 films studied by AFM, Raman and x-ray photoelectron spectroscopy

Bittencourt Papaleo Montes, C., Llobet, E., Ivanov, P., Vilanova, X., Correig, X., Silva, M. A. P., Nunes, L. A. O. & Pireaux, J-J., 2004, Dans : Journal of Physics D - Applied Physics. 37, 24, p. 3383-3391 9 p.

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Cu adsorption on carboxylic acid-terminated self-assembled monolayers: a high-resolution x-ray photoelectron spectroscopy study

Whelan, C., Ghijsen, J., Pireaux, J-J. & Maex, K., 2004, Dans : Thin Solid Films. 464-465, p. 388-392 5 p.

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Estudos arqueométricos de cerâmicas indigenas pré-coloniais das lagoas do castelo e vermelha, localizadas no Pantanal Sul-Mato-Grossense

Felicissimo, M., Peixoto, J. L., Pireaux, J-J., Demortier, G. & Rodrigues-Filho, U. P., 2004, Dans : Canindé. 4, p. 325-368 44 p.

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Foreword

Gelius, U., Svensson, S. & Pireaux, J-J., 2004, Dans : J. Electr. Spectrosc.. 137-140

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HREELS signal processing via wavelets

Charles, C., Leclerc, G., Rasson, S. & Pireaux, J-J., 2004, Dans : Surface and interface analysis. 36, p. 61-70 10 p.

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Influence of the doping method on the sensitivity of Pt-doped screen-printed SnO2 sensors

Bittencourt Papaleo Montes, C., Llobet, E., Ivanov, P., Correig, X., Vilanova, X., Brezmes, J., Hubalek, J., Malisz, K., Pireaux, J-J. & Calderer, J., 2004, Dans : Sensors and Actuators B. 97, p. 67-73 7 p.

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Noise filtering and deconvolution of XPS data by wavelets and Fourier transform

Charles, C., Leclerc, G., Louette, P., Rasson, J. P. & Pireaux, J. J., 1 janv. 2004, Dans : Surface and interface analysis. 36, 1, p. 71-80 10 p.

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Physical characterization of mixed HfAlOx layers by complementary analysis techniques

Bender, H., Conard, T., Richard, O., Brijs, B., Pétry, J., Vandervorst, W., Defranoux, C., Boher, P., Rochat, N., Wyon, C., Mack, P., Wolstenholme, J., Vitchev, R., Houssiau, L., Pireaux, J-J., Bergmaier, A. & Dollinger, G., 15 juin 2004, Dans : Materials science and engineering. B. 109, 1-3, p. 60-63 4 p.

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Polymer dielectric treatment using ultraviolet-ozone: A photoelectron spectroscopy and ellipsometric porosimetry study

Le, Q. T., Whelan, C. M., Struyf, H., Vanhaelemeersch, S., Azioune, A., Louette, P., Pireaux, J. J. & Maex, K., 1 oct. 2004, Dans : Journal of Applied Physics. 96, 7, p. 3807-3810 4 p.

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Polymer dielectric treatment using UV-ozone: a photoelectron spectroscopy and ellipsometric porosity study

Quoc Toan Le, N. V., Whelan, C., Struyf, H., Vanhaelemrrsch, S., Azioune, A., Louette, P., Pireaux, J-J. & Maex, K., 2004, Dans : Journal of Applied Physics. 96, 7, p. 3807-3810 4 p.

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Preface

Pireaux, J-J., Wiesendanger, R. & Jousten, K., 2004, Dans : Applied Surface Science. 235

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Sealing of porous low-k dielectrics: an ellipsometric porosimetry study of UV-O3 oxidized SiOxCy films

Whelan, C., Le, Q., Cecchet, F., Satta, A., Pireaux, J-J., Rudolf, P. & Maex, K., 2004, Dans : Electrochemical and Solid State Letters. 7, p. F8-F10

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Tailoring bulk and surface crafting of poly(acrylic acid) in electron-irradiated PVDF

Clochard, MC., Begue, J., Lafon, A., Caldemaison, D., Bittencourt Papaleo Montes, C., Pireaux, J-J. & Betz, N., 2004, Dans : Polymer. 45, 26, p. 8683-8694 12 p.

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Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry and X-ray Photoelectron Spectroscopy Analyses of Bixa orellana Seeds

Felicissimo, M. P., Bittencourt, C., Houssiau, L. & Pireaux, J-J., 7 avr. 2004, Dans : Journal of Agricultural and Food Chemistry. 52, 7, p. 1810-1814 5 p.

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ToF-SIMS applied to probe bixin in Bixa orellana seeds

Houssiau, L., Felicissimo, M., Bittencourt, C. & Pireaux, J. J., 15 juin 2004, Dans : Applied Surface Science. 231-232, p. 416-419 4 p.

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ToF-SIMS surface and interface characterization of the immobilized camel antibody (cAb) onto SAMs-COOH/Au substrates

Azioune, A., Pireaux, J-J. & Houssiau, L., 15 juin 2004, Dans : Applied Surface Science. 231-232, p. 402-405 4 p.

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Wavelet applications in surface science: a comparison to Fourier transform

Charles, C., Leclerc, G., Pireaux, J-J. & Rasson, J-P., 2004, Dans : Surface and interface analysis. 36, p. 49-60 12 p.

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XPS data analysis via wavelets and Fourier transform

Charles, C., Leclerc, G., Louette, P., Pireaux, J-J. & Rasson, J-P., 2004, Dans : Surface and interface analysis. 36, p. 71-80 10 p.

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X-ray photoelectron spectroscopy characterization of high-k dielectric Al2O3 and HfO2 layers deposited on SiO2/Si surface

Vitchev, R., Pireaux, J-J., Conard, T., Bender, H., Wolstenholme, J. & Defranoux, C., 2004, Dans : Applied Surface Science. 235, p. 21-25 5 p.

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X-ray photoemission spectroscopy and secondary-ion mass spectroscopy applied to the compositional study of pre-colonial pottery from Pantanal, Brazil

Felicissimo, M. P., Peixoto, J. L. S., Tomasi, R., Azioune, A., Pireaux, J-J., Houssiau, L. & Filho, U. P. R., 11 nov. 2004, Dans : Philosophical Magazine. 84, 32, p. 3483-3496 14 p.

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2003

Conjugated organic molecules on metal versus polymer electrodes: demonstration of a key energy alignment mechanism

Koch, N., Kahn, A., Ghijsen, J., Pireaux, J-J., Schwartz, J., Johnson, R. & Elschner, A., 2003, Dans : Applied Physics Letters. 82, 1, p. 70-72 3 p.

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Impact of silicone-based block copolymer surfactants on the surface and bulk microscopic organization of a biodegradable polymer, poly(e-caprolactone)

VIVILLE, P., LAZZARONI, R., DUBOIS, P., KOTZEV, A., GEERTS, Y., BORCIA, G. & Pireaux, J-J., 2003, Dans : Biomacromolecules. 4, p. 696-703 8 p.

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Increase of enamel fluoride retention by low fluence argon laser in vivo

NAMMOUR, S., Demortier, G., FLORIO, P., DELHAYE, Y., Pireaux, J-J., Morciaux, Y. & POWELL, L., 2003, Dans : Lasers in Surgery and Medicine. 33, 4, p. 260-263 4 p.

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Interplay between morphology, structure, and electronic properties at diindenoperylene-gold interfaces

Dürr, A., Koch, N., Kelsch, M., Rühm, A., Ghijsen, J., Johnson, R., Pireaux, J-J., Schwartz, J., Dosch, H. & Kahn, A., 2003, Dans : Physical Review B. 68

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Metal vs. polymer electrodes in organic devices: energy level alignment, hole injection, and structure

Koch, N., Nickel, B., Ghijsen, J., Elschner, A., Schwartz, J., Pireaux, J-J. & Kahn, A., 2003, Dans : Mat. Res. Soc. Symp. Proc.. 771, p. L3.6.1-L3.6.6

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Multitechnique characterisation of Al2O3 thin layers deposited on SiO2/Si surface by atomic layer chemical vapour deposition

Houssiau, L., Vitchev, R., Pireaux, J-J., Conard, T., Bender, H., Richard, O., Mack, P., Wolstenholme, J. & Defranoux, C., 2003, Dans : Proceedings of the AVS Fourth International Conference on Microelectronics and Interfaces. p. 36-38 3 p.

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Optically induced electron transfer from conjugated organic molecules to charged metal clusters

Koch, N., Dürr, A., Ghijsen, J., Johnson, R., Pireaux, J-J., Schwartz, J., Schreiber, F., Dosch, H. & Kahn, A., 2003, Dans : Thin Solid Films. 441, p. 145-149 5 p.

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Physical characterization of thin HfO2 layers by the combined analysis with complementary techniques

Bender, H., Conard, T., Richard, O., Brijs, B., Pétry, J., Vandervorst, W., Defranoux, C., Boher, P., Rochat, N., Wyon, C., Mack, P., Wolstenholme, J., Vitchev, R., Houssiau, L., Pireaux, J-J., Bergmaier, A. & Dollinger, G., 1 janv. 2003, Dans : Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. 5133, p. 223-232 10 p.

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Resonant electron scattering of 11-mercaptoundecanoic acid self-assembled monolayers

Magnée, R., Maazouz, M., Doneux, C., Bodino, F., Rudolf, P., Teillet-Billy, D. & Pireaux, J-J., 2003, Dans : Journal of physical chemistry B. 107, p. 4567-4572 6 p.

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Surface characterization of poly(e-caprolactone)-based nanocomposites

Viville, P., Lazzaroni, R., Pollet, E., Alexandre, M., Dubois, P., Placinta, G. B. & Pireaux, J-J., 2003, Dans : Langmuir. 19, p. 9425-9433 9 p.

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The use of x-ray photoelectron spectroscopy (XPS) in the characterization of the biotransducer nanostructured interface

Azioune, A., Louette, P., Lindner, B., Neubauer, A., Muyldermans, S. & Pireaux, J-J., 2003, Dans : European Cells and Materials. 6, 1

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Interaction and energy level alignment at interfaces between pentacene and low work function metals

Koch, N., Ghijsen, J., Ruiz, R., Pflaum, J-U., Johnson, R., Pireaux, J-J., Schwartz, J. & Kahn, A., 2002, Dans : Matererial research society symposium proceedings . 708, BB2.4, p. 1-6 6 p.

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Micro- and nanocomposites of Keggin heteropolymetalates in cellulose esters

Oliveira, F. D. C., Schneider, J., Siervo, A., Landers, R., Plepis, A., Pireaux, J-J. & Rodrigues-Filho, U. P., 2002, Dans : Surface and interface analysis. 34, p. 580-582 3 p.

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Physisorption-like interaction at the interfaces formed by pentacene and samarium

Koch, N., Ghijsen, J., Johnson, R., Schwartz, J., Pireaux, J-J. & Kahn, A., 2002, Dans : Journal of physical chemistry B. 106, p. 4192-4196 5 p.

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Sealing of porous low-k dielectric materials : UV-03 oxidised CVD silicon oxy carbide films

Whelan, C., Cecchet, F., Le, T., Satta, A., Pireaux, J-J., Maex, K. & Rudolf, P., 2002, Dans : Physicalia Mag.. 24, 3, p. 201-210 10 p.

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2001

Electronic properties of the interfaces between the wide bandgap organic semiconductor para-sexiphenyl and samarium

Koch, N., Zojer, E., Rajagopal, A., Ghijsen, J., Johnson, R., Leising, G. & Pireaux, J-J., 2001, Dans : Advanced functional materials. 11, 1, p. 51-58 8 p.

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Surface modification of polycrystalline iron surfaces by n-dodecanethiol: an XPS investigation

Pirlot, C., Delhalle, J., Pireaux, J-J. & Mekhalif, Z., 2001, Dans : Surface and Coatings Technology. 138, p. 166-172 7 p.

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2000

A new alternative for the low-workfunction electrode in organic devices

Koch, N., Zojer, E., Rajagopal, A., Ghijsen, J., Johnson, R., Leising, G. & Pireaux, J-J., 2000, Dans : Materials research society symposia proceedings. 598

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Bipolaron: the stable charged species in n-doped p-sexiphenyl

Koch, N., Rajagopal, A., Ghijsen, J., Johnson, R., Leising, G. & Pireaux, J-J., 2000, Dans : Journal of physical chemistry. B. 104, p. 1434-1438 5 p.

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High-resolution electron energy loss spectroscopy investigation of the vibrational structure and order of an octadecanethiol monolayer on gold substrates

Duwez, A-S., Yu, L. M. L., Riga, J., Delhalle, J. & Pireaux, J-J., 2000, Dans : Journal of physical chemistry. B. 104, 37, p. 8830-8835 6 p.

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Interfacial electronic structure for Ca and an electroluminescent polymer: poly(2,5-diheptyl-1,4-phenylene-alt-2,5-thienylene)

Rajagopal, A., Koch, N., Ghijsen, J., Johnson, R., Kaeriyama, K., Leising, G. & Pireaux, J-J., 2000, Dans : Journal of Applied Physics. 87, 3, p. 1331-1336 6 p.

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