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Résultat de recherche 1973 2019

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2018

Combined AFM and ToF-SIMS analyses for the study of filaments in organic resistive switching memories

Busby, Y., Franquet, A., Spampinato, V., Casula, G., Bonfiglio, A., Cosseddu, P., Pireaux, J. J. & Houssiau, L., 1 janv. 2018, Organic and Hybrid Sensors and Bioelectronics XI. Kymissis, I., List-Kratochvil, E. J. W., Shinar, R. & Torsi, L. (eds.). SPIE, Vol 10738. 1073814

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Time-of-flight
Atomic Force Microscopy
Mass Spectrometry
Filament
Secondary ion mass spectrometry

XPS depth profiles of organo lead halide layers and full perovskite solar cells by variable-size argon clusters

Busby, Y., Noël, C., Pescetelli, S., Agresti, A., Di Carlo, A., Pireaux, J. J. & Houssiau, L., 1 janv. 2018, Physical Chemistry of Semiconductor Materials and Interfaces XVII. Bronstein, H. A., Deschler, F. & Kirchartz, T. (eds.). SPIE, Vol 10724. 1072408

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Perovskite
X-ray Spectroscopy
Argon
Solar Cells
halides
2017

Versatile Catalyst Materials Fabrication by Low-Pressure Plasma Treatments

Busby, Y., Haye, E., Da Silva Pires, M., Stergiopoulos, V., Job, N. & Pireaux, J-J., 2017, Proceeding of EFC 2017.

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1997

VUV photoemission study of metallized polymers surfaces

Chtaïb, M., Ghijsen, J., Grégoire, C., Pireaux, J-J., Calderone, A., Lazzaroni, R., Brédas, J-L. & Johnson, R. L., 1997, Proceedings of the IVth symposium on metallized plastics: fundamental and applied aspects. Mittal, K. (Ed.). Marcel Dekker, p. 171-183 13 p.

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1986

Optical surface phonons of dielectric materials investigated by high-resolution electron energy loss spectroscopy

Thiry, P., Liehr, M., Pireaux, J-J., Lambin, P., Vigneron, J-P. & Lucas, A., 1986, Proceedings of the 2nd International Conference on Phonon Physics, Budapest, 26-31 Aug. 1985 (World Scientific Publishing Co., Singapore, 1986). Kollàr, J., Kroó, N., Menyhàrd, N. & Silk, D. (eds.). p. 650-652 3 p.

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