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Résultat de recherche 1973 2019

Poly(propylene) (PP) reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, p. 80-83 4 p.

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Poly(propylene) (PP) XPS Reference Core Level and Energy Loss Spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, 1, p. 80

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Core levels
polypropylene
Polypropylenes
Energy dissipation
X ray photoelectron spectroscopy

Poly(pyrrole) (PPY) reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, p. 84-89 6 p.

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Poly(pyrrole) (PPY) XPS Reference Core Level and Energy Loss Spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, 1, p. 84

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Pyrroles
Core levels
polypyrroles
pyrroles
Energy dissipation

Poly(styrene) XPS reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, p. 96-99 4 p.

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Poly(sulfone resin) XPS reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, p. 100-105 6 p.

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Poly(vinyl alcohol) (PVA) XPS reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, (Non publié) Dans : Surface science spectra. 12, p. 106-110 5 p.

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Core levels
Spectrometers
Energy dissipation
alcohols
Alcohols

Poly(vinyl butyral) XPS reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, p. 159-163 5 p.

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Poly(vinyl chloride) (PVC) XPS reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, (Non publié) Dans : Surface science spectra. 12, p. 111-115 5 p.

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Vinyl Chloride
Core levels
Polyvinyl Chloride
Polyvinyl chlorides
Spectrometers

Poly(vinyl formal) XPS reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, p. 164-168 5 p.

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Poly(vinyl stearate) XPS reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, (Non publié) Dans : Surface science spectra. 12, p. 116-120 5 p.

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stearates
Core levels
Spectrometers
Energy dissipation
X ray photoelectron spectroscopy

Poly(vinyl sulfate) Potassium Salt XPS Reference Core Level and Energy Loss Spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, 1, p. 127

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Core levels
Potassium
sulfates
Energy dissipation
potassium

Poly(vinyl sulfate) XPS reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, p. 127-132 6 p.

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Polyimide XPS reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, p. 121-126 6 p.

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Radio-frequency plasma functionalisation of carbon nanotubes surface: O2, NH3, CF4 treatment

Felten, A., Bittencourt Papaleo Montes, C., Van Lier, G., Charlier, J-C. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Journal of Applied Physics. 98, 7

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Removal of plasma-modified low-k layer using dilute HF: influence of concentration

LE, Q. T., BAKLANOV, M. R., KESTERS, E., Azioune, A., STRUYF, H., BOULLART, W., Pireaux, J-J. & VANHAELEMEERSCH, S., 2005, Dans : Electrochemical and Solid State Letters. 8, 7, p. F21-F24

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Study of annatto from Bixa orellana seeds: An application of time-of-flight secondary ion mass spectrometry

Bittencourt, C., Felicissimo, M. P., Pireaux, J-J. & Houssiau, L., 1 avr. 2005, Dans : Spectroscopy Europe. 17, 2, p. 16-22 7 p.

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Secondary ion mass spectrometry
secondary ion mass spectrometry
Seed
seeds
inert atmosphere

ToF-SIMS characterization of thermal modifications of bixin from Bixa orellana fruit

Bittencourt, C., Felicissimo, M. P., Pireaux, J-J. & Houssiau, L., 10 août 2005, Dans : Journal of Agricultural and Food Chemistry. 53, 16, p. 6195-6200 6 p.

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Bixaceae
Secondary Ion Mass Spectrometry
Bixa orellana
Secondary ion mass spectrometry
Fruits
2004

Ag induced modifications on WO3 films studied by AFM, Raman and x-ray photoelectron spectroscopy

Bittencourt Papaleo Montes, C., Llobet, E., Ivanov, P., Vilanova, X., Correig, X., Silva, M. A. P., Nunes, L. A. O. & Pireaux, J-J., 2004, Dans : Journal of Physics D - Applied Physics. 37, 24, p. 3383-3391 9 p.

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Cu adsorption on carboxylic acid-terminated self-assembled monolayers: a high-resolution x-ray photoelectron spectroscopy study

Whelan, C., Ghijsen, J., Pireaux, J-J. & Maex, K., 2004, Dans : Thin Solid Films. 464-465, p. 388-392 5 p.

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Estudos arqueométricos de cerâmicas indigenas pré-coloniais das lagoas do castelo e vermelha, localizadas no Pantanal Sul-Mato-Grossense

Felicissimo, M., Peixoto, J. L., Pireaux, J-J., Demortier, G. & Rodrigues-Filho, U. P., 2004, Dans : Canindé. 4, p. 325-368 44 p.

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Foreword

Gelius, U., Svensson, S. & Pireaux, J-J., 2004, Dans : J. Electr. Spectrosc.. 137-140

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HREELS signal processing via wavelets

Charles, C., Leclerc, G., Rasson, S. & Pireaux, J-J., 2004, Dans : Surface and interface analysis. 36, p. 61-70 10 p.

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Immobilization of camel antibody (cAb-PSA-N7) onto Au/SAM-COOH substrates: Characterization and quantification by radiolabelling, XPS and ToF-SIMS measurements

Azioune, A., De Coninck, S., Houssiau, L. & Pireaux, J-J., 1 janv. 2004, Transactions - 7th World Biomaterials Congress. p. 430 1 p.

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Self assembled monolayers
Prostate-Specific Antigen
Secondary ion mass spectrometry
X ray photoelectron spectroscopy
Antibodies

Influence of the doping method on the sensitivity of Pt-doped screen-printed SnO2 sensors

Bittencourt Papaleo Montes, C., Llobet, E., Ivanov, P., Correig, X., Vilanova, X., Brezmes, J., Hubalek, J., Malisz, K., Pireaux, J-J. & Calderer, J., 2004, Dans : Sensors and Actuators B. 97, p. 67-73 7 p.

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Noise filtering and deconvolution of XPS data by wavelets and Fourier transform

Charles, C., Leclerc, G., Louette, P., Rasson, J. P. & Pireaux, J. J., 1 janv. 2004, Dans : Surface and interface analysis. 36, 1, p. 71-80 10 p.

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Deconvolution
Photoelectron spectroscopy
Convolution
Wavelet transforms
x ray spectroscopy

Physical characterization of mixed HfAlOx layers by complementary analysis techniques

Bender, H., Conard, T., Richard, O., Brijs, B., Pétry, J., Vandervorst, W., Defranoux, C., Boher, P., Rochat, N., Wyon, C., Mack, P., Wolstenholme, J., Vitchev, R., Houssiau, L., Pireaux, J-J., Bergmaier, A. & Dollinger, G., 15 juin 2004, Dans : Materials science and engineering. B. 109, 1-3, p. 60-63 4 p.

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Chemical analysis
interlayers
methodology

Polymer dielectric treatment using UV-ozone: a photoelectron spectroscopy and ellipsometric porosity study

Quoc Toan Le, N. V., Whelan, C., Struyf, H., Vanhaelemrrsch, S., Azioune, A., Louette, P., Pireaux, J-J. & Maex, K., 2004, Dans : Journal of Applied Physics. 96, 7, p. 3807-3810 4 p.

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Preface

Pireaux, J-J., Wiesendanger, R. & Jousten, K., 2004, Dans : Applied Surface Science. 235

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Sealing of porous low-k dielectrics: an ellipsometric porosimetry study of UV-O3 oxidized SiOxCy films

Whelan, C., Le, Q., Cecchet, F., Satta, A., Pireaux, J-J., Rudolf, P. & Maex, K., 2004, Dans : Electrochemical and Solid State Letters. 7, p. F8-F10

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Tailoring bulk and surface crafting of poly(acrylic acid) in electron-irradiated PVDF

Clochard, MC., Begue, J., Lafon, A., Caldemaison, D., Bittencourt Papaleo Montes, C., Pireaux, J-J. & Betz, N., 2004, Dans : Polymer. 45, 26, p. 8683-8694 12 p.

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Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry and X-ray Photoelectron Spectroscopy Analyses of Bixa orellana Seeds

Felicissimo, M. P., Bittencourt, C., Houssiau, L. & Pireaux, J-J., 7 avr. 2004, Dans : Journal of Agricultural and Food Chemistry. 52, 7, p. 1810-1814 5 p.

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Bixaceae
Secondary Ion Mass Spectrometry
X-ray photoelectron spectroscopy
Bixa orellana
Photoelectron Spectroscopy

ToF-SIMS applied to probe bixin in Bixa orellana seeds

Houssiau, L., Felicissimo, M., Bittencourt, C. & Pireaux, J. J., 15 juin 2004, Dans : Applied Surface Science. 231-232, p. 416-419 4 p.

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Secondary ion mass spectrometry
Seed
Ions
Food Coloring Agents
Xylenes

ToF-SIMS surface and interface characterization of the immobilized camel antibody (cAb) onto SAMs-COOH/Au substrates

Azioune, A., Pireaux, J-J. & Houssiau, L., 15 juin 2004, Dans : Applied Surface Science. 231-232, p. 402-405 4 p.

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Secondary ion mass spectrometry
Antibodies
Substrates
Gold
Ethyldimethylaminopropyl Carbodiimide

Wavelet applications in surface science: a comparison to Fourier transform

Charles, C., Leclerc, G., Pireaux, J-J. & Rasson, J-P., 2004, Dans : Surface and interface analysis. 36, p. 49-60 12 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

XPS data analysis via wavelets and Fourier transform

Charles, C., Leclerc, G., Louette, P., Pireaux, J-J. & Rasson, J-P., 2004, Dans : Surface and interface analysis. 36, p. 71-80 10 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

X-ray photoelectron spectroscopy characterization of high-k dielectric Al2O3 and HfO2 layers deposited on SiO2/Si surface

Vitchev, R., Pireaux, J-J., Conard, T., Bender, H., Wolstenholme, J. & Defranoux, C., 2004, Dans : Applied Surface Science. 235, p. 21-25 5 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

X-ray photoemission spectroscopy and secondary-ion mass spectroscopy applied to the compositional study of pre-colonial pottery from Pantanal, Brazil

Felicissimo, M. P., Peixoto, J. L. S., Tomasi, R., Azioune, A., Pireaux, J-J., Houssiau, L. & Filho, U. P. R., 11 nov. 2004, Dans : Philosophical Magazine. 84, 32, p. 3483-3496 14 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

Brazil
photoelectric emission
mass spectroscopy
spectroscopy
ions
2003

Ag (111)/Sb electronic interaction studied by photoelectron spectroscopy

Bittencourt Papaleo Montes, C., Soares, E. A., Koch, N., Ghijsen, J., Pireaux, J-J. & Johnson, R., 2003, Dans : Activity Report Hasylab, Hamburg, Germany.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueRevue de documentation

Conjugated organic molecules on metal versus polymer electrodes: demonstration of a key energy alignment mechanism

Koch, N., Kahn, A., Ghijsen, J., Pireaux, J-J., Schwartz, J., Johnson, R. & Elschner, A., 2003, Dans : Applied Physics Letters. 82, 1, p. 70-72 3 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

Impact of silicone-based block copolymer surfactants on the surface and bulk microscopic organization of a biodegradable polymer, poly(e-caprolactone)

VIVILLE, P., LAZZARONI, R., DUBOIS, P., KOTZEV, A., GEERTS, Y., BORCIA, G. & Pireaux, J-J., 2003, Dans : Biomacromolecules. 4, p. 696-703 8 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

Increase of enamel fluoride retention by low fluence argon laser in vivo

NAMMOUR, S., Demortier, G., FLORIO, P., DELHAYE, Y., Pireaux, J-J., Morciaux, Y. & POWELL, L., 2003, Dans : Lasers in Surgery and Medicine. 33, 4, p. 260-263 4 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

Interplay between morphology, structure, and electronic properties at diindenoperylene-gold interfaces

Dürr, A., Koch, N., Kelsch, M., Rühm, A., Ghijsen, J., Johnson, R., Pireaux, J-J., Schwartz, J., Dosch, H. & Kahn, A., 2003, Dans : Physical Review B. 68

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

Metal vs. polymer electrodes in organic devices: energy level alignment, hole injection, and structure

Koch, N., Nickel, B., Ghijsen, J., Elschner, A., Schwartz, J., Pireaux, J-J. & Kahn, A., 2003, Dans : Mat. Res. Soc. Symp. Proc.. 771, p. L3.6.1-L3.6.6

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

Multitechnique characterisation of Al2O3 thin layers deposited on SiO2/Si surface by atomic layer chemical vapour deposition

Houssiau, L., Vitchev, R., Pireaux, J-J., Conard, T., Bender, H., Richard, O., Mack, P., Wolstenholme, J. & Defranoux, C., 2003, Dans : Proceedings of the AVS Fourth International Conference on Microelectronics and Interfaces. p. 36-38 3 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

Optically induced electron transfer from conjugated organic molecules to charged metal clusters

Koch, N., Dürr, A., Ghijsen, J., Johnson, R., Pireaux, J-J., Schwartz, J., Schreiber, F., Dosch, H. & Kahn, A., 2003, Dans : Thin Solid Films. 441, p. 145-149 5 p.

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