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Jean-Jacques Pireaux

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2005

Poly(ethylene succinate) XPS reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, p. 144-148 5 p.

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Poly(ethylene terephthalate) (PET) XPS reference core level and energy loss spectra.

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, p. 1-5 5 p.

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Poly(ethyl methacrylate) (PEMA) XPS reference core level and energy loss spectra

Louette, P., BODINO, F. & Pireaux, J-J., 2005, (Non publié) Dans : Surface science spectra. 12, p. 44-48 5 p.

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Poly(isobutyl methacrylate) XPS reference core level and energy loss spectra

Louette, P., BODINO, F. & Pireaux, J-J., 2005, (Non publié) Dans : Surface science spectra. 12, p. 64-68 5 p.

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Poly(methyl hydrogen siloxane) (PMHS) XPS Reference Core Level and Energy Loss Spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, 1, p. 133

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Poly(methyl hydrogen siloxane) XPS reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, p. 133-138 6 p.

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Poly(methyl methacrylate) (PMMA) XPS reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, p. 69-73 5 p.

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Poly(n-vinylpyrolidone) (PNVP) XPS reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, p. 74-79 6 p.

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Poly(phenylene sulfide) (PPS) XPS reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, p. 169-173 5 p.

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Poly(propylene) (PP) reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, p. 80-83 4 p.

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Poly(propylene) (PP) XPS Reference Core Level and Energy Loss Spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, 1, p. 80

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Poly(pyrrole) (PPY) reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, p. 84-89 6 p.

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Poly(pyrrole) (PPY) XPS Reference Core Level and Energy Loss Spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, 1, p. 84

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Poly(styrene) XPS reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, p. 96-99 4 p.

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Poly(sulfone resin) XPS reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, p. 100-105 6 p.

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Poly(vinyl alcohol) (PVA) XPS reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, (Non publié) Dans : Surface science spectra. 12, p. 106-110 5 p.

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Poly(vinyl butyral) XPS reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, p. 159-163 5 p.

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Poly(vinyl chloride) (PVC) XPS reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, (Non publié) Dans : Surface science spectra. 12, p. 111-115 5 p.

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Poly(vinyl formal) XPS reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, p. 164-168 5 p.

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Poly(vinyl stearate) XPS reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, (Non publié) Dans : Surface science spectra. 12, p. 116-120 5 p.

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Poly(vinyl sulfate) Potassium Salt XPS Reference Core Level and Energy Loss Spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, 1, p. 127

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Poly(vinyl sulfate) XPS reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, p. 127-132 6 p.

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Polyimide XPS reference core level and energy loss spectra

Louette, P., Bodino, F. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Surface science spectra. 12, p. 121-126 6 p.

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Radio-frequency plasma functionalisation of carbon nanotubes surface: O2, NH3, CF4 treatment

Felten, A., Bittencourt Papaleo Montes, C., Van Lier, G., Charlier, J-C. & Pireaux, J-J., 2005, Dans : Journal of Applied Physics. 98, 7

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Removal of plasma-modified low-k layer using dilute HF: influence of concentration

LE, Q. T., BAKLANOV, M. R., KESTERS, E., Azioune, A., STRUYF, H., BOULLART, W., Pireaux, J-J. & VANHAELEMEERSCH, S., 2005, Dans : Electrochemical and Solid State Letters. 8, 7, p. F21-F24

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Study of annatto from Bixa orellana seeds: An application of time-of-flight secondary ion mass spectrometry

Bittencourt, C., Felicissimo, M. P., Pireaux, J-J. & Houssiau, L., 1 avr. 2005, Dans : Spectroscopy Europe. 17, 2, p. 16-22 7 p.

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ToF-SIMS characterization of thermal modifications of bixin from Bixa orellana fruit

Bittencourt, C., Felicissimo, M. P., Pireaux, J-J. & Houssiau, L., 10 août 2005, Dans : Journal of Agricultural and Food Chemistry. 53, 16, p. 6195-6200 6 p.

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2004

Ag induced modifications on WO3 films studied by AFM, Raman and x-ray photoelectron spectroscopy

Bittencourt Papaleo Montes, C., Llobet, E., Ivanov, P., Vilanova, X., Correig, X., Silva, M. A. P., Nunes, L. A. O. & Pireaux, J-J., 2004, Dans : Journal of Physics D - Applied Physics. 37, 24, p. 3383-3391 9 p.

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Cu adsorption on carboxylic acid-terminated self-assembled monolayers: a high-resolution x-ray photoelectron spectroscopy study

Whelan, C., Ghijsen, J., Pireaux, J-J. & Maex, K., 2004, Dans : Thin Solid Films. 464-465, p. 388-392 5 p.

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Estudos arqueométricos de cerâmicas indigenas pré-coloniais das lagoas do castelo e vermelha, localizadas no Pantanal Sul-Mato-Grossense

Felicissimo, M., Peixoto, J. L., Pireaux, J-J., Demortier, G. & Rodrigues-Filho, U. P., 2004, Dans : Canindé. 4, p. 325-368 44 p.

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Foreword

Gelius, U., Svensson, S. & Pireaux, J-J., 2004, Dans : J. Electr. Spectrosc.. 137-140

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HREELS signal processing via wavelets

Charles, C., Leclerc, G., Rasson, S. & Pireaux, J-J., 2004, Dans : Surface and interface analysis. 36, p. 61-70 10 p.

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Immobilization of camel antibody (cAb-PSA-N7) onto Au/SAM-COOH substrates: Characterization and quantification by radiolabelling, XPS and ToF-SIMS measurements

Azioune, A., De Coninck, S., Houssiau, L. & Pireaux, J-J., 1 janv. 2004, Transactions - 7th World Biomaterials Congress. p. 430 1 p.

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Influence of the doping method on the sensitivity of Pt-doped screen-printed SnO2 sensors

Bittencourt Papaleo Montes, C., Llobet, E., Ivanov, P., Correig, X., Vilanova, X., Brezmes, J., Hubalek, J., Malisz, K., Pireaux, J-J. & Calderer, J., 2004, Dans : Sensors and Actuators B. 97, p. 67-73 7 p.

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Noise filtering and deconvolution of XPS data by wavelets and Fourier transform

Charles, C., Leclerc, G., Louette, P., Rasson, J. P. & Pireaux, J. J., 1 janv. 2004, Dans : Surface and interface analysis. 36, 1, p. 71-80 10 p.

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Physical characterization of mixed HfAlOx layers by complementary analysis techniques

Bender, H., Conard, T., Richard, O., Brijs, B., Pétry, J., Vandervorst, W., Defranoux, C., Boher, P., Rochat, N., Wyon, C., Mack, P., Wolstenholme, J., Vitchev, R., Houssiau, L., Pireaux, J-J., Bergmaier, A. & Dollinger, G., 15 juin 2004, Dans : Materials science and engineering. B. 109, 1-3, p. 60-63 4 p.

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Polymer dielectric treatment using UV-ozone: a photoelectron spectroscopy and ellipsometric porosity study

Quoc Toan Le, N. V., Whelan, C., Struyf, H., Vanhaelemrrsch, S., Azioune, A., Louette, P., Pireaux, J-J. & Maex, K., 2004, Dans : Journal of Applied Physics. 96, 7, p. 3807-3810 4 p.

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Preface

Pireaux, J-J., Wiesendanger, R. & Jousten, K., 2004, Dans : Applied Surface Science. 235

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Sealing of porous low-k dielectrics: an ellipsometric porosimetry study of UV-O3 oxidized SiOxCy films

Whelan, C., Le, Q., Cecchet, F., Satta, A., Pireaux, J-J., Rudolf, P. & Maex, K., 2004, Dans : Electrochemical and Solid State Letters. 7, p. F8-F10

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Tailoring bulk and surface crafting of poly(acrylic acid) in electron-irradiated PVDF

Clochard, MC., Begue, J., Lafon, A., Caldemaison, D., Bittencourt Papaleo Montes, C., Pireaux, J-J. & Betz, N., 2004, Dans : Polymer. 45, 26, p. 8683-8694 12 p.

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Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry and X-ray Photoelectron Spectroscopy Analyses of Bixa orellana Seeds

Felicissimo, M. P., Bittencourt, C., Houssiau, L. & Pireaux, J-J., 7 avr. 2004, Dans : Journal of Agricultural and Food Chemistry. 52, 7, p. 1810-1814 5 p.

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ToF-SIMS applied to probe bixin in Bixa orellana seeds

Houssiau, L., Felicissimo, M., Bittencourt, C. & Pireaux, J. J., 15 juin 2004, Dans : Applied Surface Science. 231-232, p. 416-419 4 p.

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ToF-SIMS surface and interface characterization of the immobilized camel antibody (cAb) onto SAMs-COOH/Au substrates

Azioune, A., Pireaux, J-J. & Houssiau, L., 15 juin 2004, Dans : Applied Surface Science. 231-232, p. 402-405 4 p.

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Wavelet applications in surface science: a comparison to Fourier transform

Charles, C., Leclerc, G., Pireaux, J-J. & Rasson, J-P., 2004, Dans : Surface and interface analysis. 36, p. 49-60 12 p.

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XPS data analysis via wavelets and Fourier transform

Charles, C., Leclerc, G., Louette, P., Pireaux, J-J. & Rasson, J-P., 2004, Dans : Surface and interface analysis. 36, p. 71-80 10 p.

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X-ray photoelectron spectroscopy characterization of high-k dielectric Al2O3 and HfO2 layers deposited on SiO2/Si surface

Vitchev, R., Pireaux, J-J., Conard, T., Bender, H., Wolstenholme, J. & Defranoux, C., 2004, Dans : Applied Surface Science. 235, p. 21-25 5 p.

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