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Jérémy Brison

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20002013
Si vous avez apporté des modifications à Pure, elles seront bientôt visibles.

Thèse

Le co-sputtering de césium et de xénon : une nouvelle approche pour une méthode de profilage quantitative en ToF-SIMS

Auteur: Brison, J., 2003

Superviseur: Houssiau, L. (Promoteur)

Thèse de l'étudiant: DEA typesDEA en Physique et Chimie des matériaux

On the understanding of ionization and cluster formation processes during ToF-SIMS depth profiling by Co-sputtering cesium and xenon

Auteur: Brison, J., 2007

Superviseur: Houssiau, L. (Promoteur), Lucas, S. (Jury), Pireaux, J. (Jury), Bertrand, P. (Personne externe) (Jury) & Niehuis, E. (Personne externe) (Jury)

Thèse de l'étudiant: Doc typesDocteur en Sciences

Optimisation de dépôts de TiO2 sur verre et caractérisation Tof-SIMS

Auteur: Douhard, B., 2005

Superviseur: Pireaux, J. (Promoteur), Lepere, M. (Jury), Brison, J. (Jury) & Houssiau, L. (Promoteur)

Thèse de l'étudiant: Master typesMaster en sciences chimiques