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Jérémy Brison

  • 177 Citations
  • 7 h-Index
20002013
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  • 51 Profils similaires
Secondary ion mass spectrometry Ingénierie et Science des Matériaux
Cesium Ingénierie et Science des Matériaux
Depth profiling Ingénierie et Science des Matériaux
Xenon Ingénierie et Science des Matériaux
secondary ion mass spectrometry Physique & Astronomie
Sputtering Ingénierie et Science des Matériaux
cesium Physique & Astronomie
xenon Physique & Astronomie

Projets 2000 2007

Résultat de recherche 2004 2013

  • 177 Citations
  • 7 h-Index
  • 17 Article

TOF-SIMS depth profiling of multilayer amino-acid films using large Argon cluster Arn+, C60+ and Cs+ sputtering ions: A comparative study

Wehbe, N., Tabarrant, T., Brison, J., Mouhib, T., Delcorte, A., Bertrand, P., Moellers, R., Niehuis, E. & Houssiau, L., 1 janv. 2013, Dans : Surface and interface analysis. 45, 1, p. 178-180 3 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

Depth profiling
Argon
Secondary ion mass spectrometry
secondary ion mass spectrometry
Sputtering
bionics
Depth profiling
Ions
ions
Secondary ion mass spectrometry

Cesium redeposition artifacts during low energy ToF-SIMS depth profiling

Vitchev, R. G., Brison, J. & Houssiau, L., 15 juin 2009, Dans : Applied Surface Science. 255, 17, p. 7586-7589 4 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

Cesium
Depth profiling
Secondary ion mass spectrometry
Sputtering
Ions
Depth profiling
Xenon
Cesium
Secondary ion mass spectrometry
cesium
Depth profiling
Xenon
Cesium
Secondary ion mass spectrometry
cesium

Activités 2002 2008

  • 8 Participation à une conférence, un congrès
  • 1 Participation à un atelier/workshop, un séminaire, un cours

SIMS International XIV

Jérémy Brison (Orateur)
28 avr. 2008

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

Nanobeams meeting

Jérémy Brison (Orateur)
10 nov. 2006

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à un atelier/workshop, un séminaire, un cours

5th internal symposium on atomic level characterizations for new materials and devices ALC'05

Jérémy Brison (Orateur)
4 déc. 20059 déc. 2005

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

15th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS XV)

Jérémy Brison (Orateur)
12 sept. 200516 sept. 2005

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

SIMS International XV

Jérémy Brison (Orateur)
12 sept. 200516 sept. 2005

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

Thèse

Le co-sputtering de césium et de xénon : une nouvelle approche pour une méthode de profilage quantitative en ToF-SIMS

Auteur: Brison, J., 2003

Superviseur: Houssiau, L. (Promoteur)

Thèse de l'étudiant: DEA typesDEA en Physique et Chimie des matériaux

On the understanding of ionization and cluster formation processes during ToF-SIMS depth profiling by Co-sputtering cesium and xenon

Auteur: Brison, J., 2007

Superviseur: Houssiau, L. (Promoteur), Lucas, S. (Jury), Pireaux, J. (Jury), Bertrand, P. (Personne externe) (Jury) & Niehuis, E. (Personne externe) (Jury)

Thèse de l'étudiant: Doc typesDocteur en Sciences

Optimisation de dépôts de TiO2 sur verre et caractérisation Tof-SIMS

Auteur: Douhard, B., 2005

Superviseur: Pireaux, J. (Promoteur), Lepere, M. (Jury), Brison, J. (Jury) & Houssiau, L. (Promoteur)

Thèse de l'étudiant: Master typesMaster en sciences chimiques