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Passez en revue plus en détail les thèmes de recherche où Celine NOEL est actif. Ces libellés thématiques proviennent des travaux de cette personne. Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.
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Projets
- 1 Terminé
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Depth profiling of hybrid multilayers using ToF-SIMS: from model samples to photonic devices
1/09/13 → 8/04/19
Projet: Projet de thèse
Résultat de recherche
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Comparison of the linking arm effect on the biological performance of a CD31 agonist directly grafted on L605 CoCr alloy by a plasma-based multistep strategy
Diaz-Rodriguez, S., Loy, C., Chevallier, P., Noël, C., Caligiuri, G., Houssiau, L. & Mantovani, D., 1 sept. 2019, Dans: Biointerphases. 14, 5, p. 051009 051009.Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revue › Article › Revue par des pairs
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Depth Profiling of Organic Light-Emitting Diodes by ToF-SIMS Coupled with Wavelet–Principal Component Analysis
Noël, C., Tuccitto, N., Busby, Y., Auer-Berger, M., Licciardello, A., List-Kratochvil, E. J. W. & Houssiau, L., 30 mai 2019, Dans: ACS Applied Polymer Materials. 1, 7, p. 1821-1828 8 p.Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revue › Article › Revue par des pairs
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Hybrid perovskites depth profiling with variable-size argon clusters and monatomic ions beams
Noël, C., Pescetelli, S., Agresti, A., Franquet, A., Spampinato, V., Felten, A., di Carlo, A., Houssiau, L. & Busby, Y., 1 mars 2019, Dans: Materials. 12, 5, 726.Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revue › Article › Revue par des pairs
Accès ouvert -
Surface modification and direct plasma amination of L605 CoCr alloys: on the optimization of the oxide layer for application in cardiovascular implants
Diaz-Rodriguez, S., Chevallier, P., Paternoster, C., Montaño-Machado, V., Noël, C., Houssiau, L. & Mantovani, D., 1 janv. 2019, Dans: RSC Advances. 9, 4, p. 2292-2301 10 p.Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revue › Article › Revue par des pairs
Accès ouvert -
ToF-SIMS Depth Profiling of Organic Delta Layers with Low-Energy Cesium Ions: Depth Resolution Assessment
Noël, C., Busby, Y., Mine, N. & Houssiau, L., 15 août 2019, Dans: Journal of the American Society for Mass Spectrometry. 30, 8, p. 1537-1544 8 p.Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revue › Article › Revue par des pairs
Thèse
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Depth profiling of hybrid multilayers using ToF-SIMS: from model samples to photonic devices
Author: Noel, C., 8 avr. 2019Superviseur: Houssiau, L. (Promoteur), Cecchet, F. (Président), Busby, Y. (Jury), Delcorte, A. (Personne externe) (Jury), Galtayries, A. (Personne externe) (Jury) & Bernard, L. (Personne externe) (Jury)
Thèse de l'étudiant: Doc types › Docteur en Sciences
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