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Bastien Douhard

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20052009
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Résultat de recherche 2005 2009

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2009
Depth profiling
Xenon
Cesium
Secondary ion mass spectrometry
cesium

Scanning transmission X-ray microscopy of multi-walled carbon nanotubes

Najafi, E., Cruz, D. H., Obst, M., Hitchcock, A. P., Felten, A., Douhard, B., Pireaux, J-J., Kaznatcheev, K. & Karunakaran, C., 1 janv. 2009, Dans : Journal of Physics : Conference Series. 186

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carbon nanotubes
microscopy
scanning
x rays
dichroism
2008

MCsn+ cluster formation on organic surfaces: A novel way to depth-profile organics?

Mine, N., Douhard, B. & Houssiau, L., 15 déc. 2008, Dans : Applied Surface Science. 255, 4, p. 973-976 4 p.

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Depth profiling
Polymers
Atoms
Polymethyl Methacrylate
Ions

Molecular depth profiling of polymers with very low energy ions

Houssiau, L., Douhard, B. & Mine, N., 15 déc. 2008, Dans : Applied Surface Science. 255, 4, p. 970-972 3 p.

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Depth profiling
Polymers
Ions
Polyethylene Terephthalates
Polymethyl Methacrylate

Polarization Dependence of the C 1s X-ray Absorption Spectra of Individual Multi-Walled Carbon Nanotubes

Najafi, E., Hernandez Cruz, D., Obst, M., Hitchcock, A., Douhard, B., Pireaux, J-J. & Felten, A., 2008, Dans : Small. 4, p. 2279-2285 7 p.

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Scanning transmission x-ray microscopy of individual multi-walled carbon nanotubes: linear dichroism and functionalization chemistry

Hitchcock, A., Najafi, E., Obst, M., Pireaux, J-J., Douhard, B. & Felten, A., 2008, Dans : Microscopy and Microanalysis. 14, p. 190-191 2 p.

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The Storing Matter technique: Preliminary results on PS and PVC

Philipp, P., Douhard, B., Lacour, F., Wirtz, T., Houssiau, L., Pireaux, J-J. & Migeon, H-N., 15 déc. 2008, Dans : Applied Surface Science. 255, 4, p. 866-869 4 p.

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Polyvinyl Chloride
Polyvinyl chlorides
Sputter deposition
Secondary ion mass spectrometry
Ion bombardment
2007

Measurement and modeling of work function changes during low energy cesium sputtering

Brison, J., Mine, N., Poisseroux, S., Douhard, B., Vitchev, R. G. & Houssiau, L., 15 mars 2007, Dans : Surface Science. 601, 6, p. 1467-1472 6 p.

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Cesium
cesium
Sputtering
sputtering
Silicon

Metallic Nanoparticles on Plasma Treated Carbon Nanotubes: Nano2hybrids

Bittencourt Papaleo Montes, C., Felten, A., Douhard, B., Colomer, J-F., Van Tendeloo, G., Drube, W., Ghijsen, J. & Pireaux, J-J., 2007, Dans : Surface Science. 601, p. 2800-2804 5 p.

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Molecular depth-profiling of polycarbonate with low-energy Cs+ ions

Mine, N., Douhard, B., Brison, J. & Houssiau, L., 1 janv. 2007, Dans : Rapid Communications in Mass Spectrometry. 21, 16, p. 2680-2684 5 p.

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polycarbonate
Depth profiling
Ions
Polymers
Irradiation

Nano(2) hybrids compounds: Sample cases for electronic interaction at the carbon nanotube-metal interface

Bittencourt, C., Felten, A., Douhard, B., Mirabella, F., Colomer, J-F., Van Tendeloo, G., Drube, W., Johnson, R. L., Ghijsen, J. & Pireaux, J-J., 2007, Dans : Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. 156, p. xxxix-xl 2 p.

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2006

Atomically flat GaMnN by diffusion of Mn into GaN(000 over(1, ̄))

Dumont, J., Kowalski, B. J., Pietrzyk, M., Seldrum, T., Houssiau, L., Douhard, B., Grzegory, I., Porowski, S. & Sporken, R., 1 oct. 2006, Dans : Superlattices and microstructures. 40, 4-6 SPEC. ISS., p. 607-611 5 p.

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Scanning tunneling microscopy
Annealing
Spectroscopy
Ions
annealing

Caesium/xenon dual beam depth profiling: Velocity of the sputtered atom and ionization probability

Brison, J., Douhard, B. & Houssiau, L., 30 juil. 2006, Dans : Applied Surface Science. 252, 19, p. 6440-6443 4 p.

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Cesium
Xenon
Depth profiling
Ionization
Atoms

Photoemission Studies of Gold Clusters Thermally Evaporated on Multi Wall Carbon Nanotubes

Bittencourt Papaleo Montes, C., Felten, A., Douhard, B., Ghijsen, J., Johnson, R., Drube, W. & Pireaux, J-J., 2006, Dans : Chemical physics. 328, p. 385-391 7 p.

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