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Bastien Douhard

  • 199 Citations
  • 6 h-Index
20052009
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Profil personnel

Domaines de compétence

Spectrometrie ToF-SIMS, physique des surfaces

Diplômes

Licencié en sciences physiques

Domaines de compétence

Spectrometrie ToF-SIMS, physique des surfaces

Diplômes

Licencié en sciences physiques

Empreinte digitale Examinez les sujets de recherche où Bastien Douhard est actif. Ces libellés de rubriques sont le fruit de recherches menées par cette personne. Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

  • 19 Profils similaires
Depth profiling composés chimiques
Cesium Ingénierie et Science des Matériaux
Ions composés chimiques
Sputtering Ingénierie et Science des Matériaux
polycarbonate composés chimiques
Xenon Ingénierie et Science des Matériaux
Polymers composés chimiques
Ionization Ingénierie et Science des Matériaux

Projets 2006 2009

Résultat de recherche 2005 2009

  • 199 Citations
  • 6 h-Index
  • 14 Article
  • 1 Revue de documentation
  • 1 Autre contribution
Depth profiling
Xenon
Cesium
Secondary ion mass spectrometry
cesium

Scanning transmission X-ray microscopy of multi-walled carbon nanotubes

Najafi, E., Cruz, D. H., Obst, M., Hitchcock, A. P., Felten, A., Douhard, B., Pireaux, J-J., Kaznatcheev, K. & Karunakaran, C., 1 janv. 2009, Dans : Journal of Physics : Conference Series. 186

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

carbon nanotubes
microscopy
scanning
x rays
dichroism

MCsn+ cluster formation on organic surfaces: A novel way to depth-profile organics?

Mine, N., Douhard, B. & Houssiau, L., 15 déc. 2008, Dans : Applied Surface Science. 255, 4, p. 973-976 4 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

Depth profiling
Polymers
Atoms
Polymethyl Methacrylate
Ions

Molecular depth profiling of polymers with very low energy ions

Houssiau, L., Douhard, B. & Mine, N., 15 déc. 2008, Dans : Applied Surface Science. 255, 4, p. 970-972 3 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

Depth profiling
Polymers
Ions
Polyethylene Terephthalates
Polymethyl Methacrylate

Polarization Dependence of the C 1s X-ray Absorption Spectra of Individual Multi-Walled Carbon Nanotubes

Najafi, E., Hernandez Cruz, D., Obst, M., Hitchcock, A., Douhard, B., Pireaux, J-J. & Felten, A., 2008, Dans : Small. 4, p. 2279-2285 7 p.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

Activités 2005 2007

  • 4 Participation à une conférence, un congrès
  • 1 Participation à un atelier/workshop, un séminaire, un cours

Séjour de recherches

Bastien Douhard (Orateur)
18 juin 200724 juin 2007

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

Séjour de recherche

Bastien Douhard (Orateur)
24 juin 200730 juin 2007

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

European PhD school on "nanoanalysis using finely focused ion and electron beams"

Bastien Douhard (Participant)
21 nov. 2005

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à un atelier/workshop, un séminaire, un cours

European workshop on "Nanoanalysis using finely focused ion and electron beams"

Bastien Douhard (Participant)
3 nov. 20054 nov. 2005

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

Séjour de recherches

Bastien Douhard (Orateur)
5 sept. 200515 sept. 2005

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

Thèse

Optimisation de dépôts de TiO2 sur verre et caractérisation Tof-SIMS

Auteur: Douhard, B., 2005

Superviseur: Pireaux, J. (Promoteur), Lepere, M. (Jury), Brison, J. (Jury) & Houssiau, L. (Promoteur)

Thèse de l'étudiant: Master typesMaster en sciences chimiques