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Technological challenges and progress in nanomaterials plasma surface modification – A review

Vandenabeele, C. & Lucas, S., janv. 2020, Dans : Materials Science and Engineering R: Reports. 139, 40 p., 100521.

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Thin film depth profiling by ion beam analysis

Jeynes, C. & Colaux, J. L., 7 nov. 2016, Dans : Analyst. 141, 21, p. 5944-5985 42 p.

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