Résultat de recherche 1969 2020

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Article de revue
2016

Thin film depth profiling by ion beam analysis

Jeynes, C. & Colaux, J. L., 7 nov. 2016, Dans : Analyst. 141, 21, p. 5944-5985 42 p.

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Depth profiling
Rutherford backscattering spectroscopy
Spectrometry
Ion beams
Spectrum Analysis
2020

Technological challenges and progress in nanomaterials plasma surface modification – A review

Vandenabeele, C. & Lucas, S., 2020, Dans : Materials Science and Engineering R: Reports. 139, 40 p., 100521.

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Nanostructured materials
Surface treatment
Nanocomposites
Plasmas
Powders