Visite de l'entreprise Ion-TOF

Houssiau, L. (Participant)

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

Description

Démonstration de la machine ToF-SIMS IV, analyse d'écahtillons test
Période29 nov. 2000 - 30 nov. 2000
Type d'événementSéjour à l'étranger
LieuMünster, Allemagne