Third IEEE International Conference on Software Testing, Verification and Validation

Activité: Participation ou organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

Description

Automated and Scalable T-wise Test Cases Generation Strategies for Software Product Lines
Période9 avr. 2010
Type d'événementComité scientifique
LieuParis, FranceAfficher sur la carte