The 17th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry , Toronto, Canada.

  • Nimer Wehbe (Orateur)

Activité: Participation ou organisation d'un événement › Participation à une conférence, un congrès

Description

Oral Contribution: "Molecular depth profiling with reactive ions, or why chemistry matters in sputtering". L. Houssiau, N. Mine, N. Wehbe.
Période14 sept. 2009 → 18 sept. 2009
Type d'événementUne conférence
LieuToronto, CanadaAfficher sur la carte