The 16th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry , Kanazawa, Japan.

Nimer Wehbe (Poster)

Universite de Namur

Activité: Participation ou organisation d'un événement › Participation à une conférence, un congrès

Description

"Metal-Assisted SIMS and Cluster Ion Bombardment for Ion Yield Enhancement". A. Heile, N. Wehbe, A. Delcorte, P. Bertrand, A. Felten, L. Houssiau, J.-J. Pireau, R. De Mondt, L. Van Vaeck, D. Lipinsky and H. F. Arlinghaus.

Période	29 oct. 2007 → 2 nov. 2007
Type d'événement	Une conférence
Lieu	Kanazawa, Japan.Afficher sur la carte