The 16th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry , Kanazawa, Japan.

Nimer Wehbe (Orateur)

Universite de Namur

Activité: Participation ou organisation d'un événement › Participation à une conférence, un congrès

Description

Oral contribution: "Secondary Ion Yield Evolutions Induced by Noble Metal Deposition using Atomic and Polyatomic Projectiles in Static-SIMS". N. Wehbe, A. Delcorte, A. Heile, H. F. Arlinghaus, P. Bertrand.

Période	29 oct. 2007 → 2 nov. 2007
Type d'événement	Une conférence
Lieu	Kanazawa, Japan.Afficher sur la carte