SIMS XVI

Activité: Participation ou organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

Description

Molecular depth profiling of polymers with very low energy ions, communication orale. Co-auteurs : B. Douhard et N. Mine.Depth distribution of Cs implanted into Si at steady-state during dual beam ToF-SIMS profiling, poster. Co
Période28 oct. 20072 nov. 2007
Type d'événementUne conférence
LieuKanazawa, JaponAfficher sur la carte