SIMS XIX

Houssiau, L. (Conférencier)

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

Description

2 conferences : "Investigation of Cs surface layer formation in Cs-SIMS with TOF-MEIS and SIMS" "Depth Resolution Optimization in Dual Beam Cs+/Bi3+ Depth Profiling of Amino Acids Multilayers"
Période29 sept. 20134 oct. 2013
Type d'événementComité scientifique
LieuJeju, Corée du Sud